| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题的来源及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 MOSFET失效分析国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 MOSFET失效分析国外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 MOSFET失效分析国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 加速退化试验及性能退化建模国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3.1 加速退化试验国内外研究现状 | 第14页 |
| 1.3.2 性能退化建模国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3.3 基于加速退化的MOSFET可靠性评估研究现状 | 第15页 |
| 1.4 寿命预测技术国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.5 国内外文献综述简析 | 第16-18页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第2章 VD功率MOSFET失效机理分析 | 第19-34页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 功率MOSFET主要失效模式和机理分析 | 第19-23页 |
| 2.2.1 功率MOSFET封装结构失效分析 | 第19-21页 |
| 2.2.2 功率MOSFET芯片结构失效分析 | 第21-23页 |
| 2.3 HEF及BTI条件下VD功率MOSFET退化机理分析 | 第23-27页 |
| 2.3.1 HEF条件下VD功率MOSFET退化机理分析 | 第24-26页 |
| 2.3.2 BTI条件下功率MOSFET退化机理分析 | 第26-27页 |
| 2.4 功率MOSFET敏感参数确定 | 第27-30页 |
| 2.4.1 阈值电压 | 第28页 |
| 2.4.2 导通电阻 | 第28页 |
| 2.4.3 转移特性曲线 | 第28-29页 |
| 2.4.4 米勒平台电压 | 第29-30页 |
| 2.5 失效机理TCAD仿真分析及验证 | 第30-33页 |
| 2.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 功率MOSFET加速退化及参数测试系统 | 第34-45页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 系统总体方案设计 | 第34-36页 |
| 3.2.1 系统主要功能 | 第35页 |
| 3.2.2 系统总体方案设计 | 第35-36页 |
| 3.3 系统硬件设计 | 第36-39页 |
| 3.3.1 参数测试电路设计 | 第36-37页 |
| 3.3.2 测试调理电路设计 | 第37-39页 |
| 3.3.3 退化模块电路设计 | 第39页 |
| 3.4 系统软件设计 | 第39-42页 |
| 3.5 系统精度及稳定性检验 | 第42-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 VD功率MOSFET参数退化建模 | 第45-67页 |
| 4.1 引言 | 第45页 |
| 4.2 VD功率MOSFET加速退化试验方案 | 第45-52页 |
| 4.2.1 加速退化试验方案设计 | 第45-47页 |
| 4.2.2 加速退化试验结果及分析 | 第47-52页 |
| 4.3 经典时间应力模型 | 第52-55页 |
| 4.3.1 阿伦尼乌斯模型 | 第52-53页 |
| 4.3.2 逆幂律模型 | 第53-54页 |
| 4.3.3 退化过程模型 | 第54页 |
| 4.3.4 经典MOSFET参数退化模型 | 第54-55页 |
| 4.4 HEF下MOSFET参数退化模型 | 第55-60页 |
| 4.4.1 HEF下阈值电压退化模型的建立 | 第55-57页 |
| 4.4.2 HEF下导通电阻退化模型的建立 | 第57-58页 |
| 4.4.3 HEF下跨导退化模型的建立 | 第58-60页 |
| 4.4.4 HEF下米勒平台电压退化模型的建立 | 第60页 |
| 4.5 PBTI下MOSFET参数退化建模 | 第60-64页 |
| 4.6 退化模型准确度检验 | 第64-66页 |
| 4.7 本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 基于退化数据的VD功率MOSFET寿命预测方法 | 第67-85页 |
| 5.1 引言 | 第67页 |
| 5.2 参数退化模型寿命预测方法 | 第67-68页 |
| 5.3 基于数据驱动的寿命预测方法 | 第68-76页 |
| 5.3.1 时间序列分析法 | 第69-70页 |
| 5.3.2 平稳性检验和平稳化处理 | 第70-72页 |
| 5.3.3 非周期性时间序列寿命预测结果 | 第72-76页 |
| 5.4 基于粒子滤波算法的寿命预测方法 | 第76-83页 |
| 5.4.1 标准粒子滤波算法 | 第76-77页 |
| 5.4.2 初始化和权值更新 | 第77-79页 |
| 5.4.3 重采样算法 | 第79-80页 |
| 5.4.4 粒子滤波算法寿命预测结果 | 第80-83页 |
| 5.5 寿命预测方法比较 | 第83-84页 |
| 5.6 本章小结 | 第84-85页 |
| 结论 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-92页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94页 |
