基于模式识别的磁光图像增强算法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 课题的国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 磁光成像检测技术的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 磁光图像增强算法的研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 课题研究的主要内容及章节安排 | 第16-18页 |
| 第二章 干扰特征的产生机理分析及初步改进 | 第18-33页 |
| 2.1 磁光成像的基本原理 | 第18-23页 |
| 2.1.1 漏磁检测原理 | 第18-19页 |
| 2.1.2 法拉第旋光效应和马吕斯定律 | 第19-20页 |
| 2.1.3 磁光成像系统原理及实验平台介绍 | 第20-23页 |
| 2.2 磁光图像中干扰特征的产生机理 | 第23-26页 |
| 2.2.1 斑状干扰的产生机理 | 第23-25页 |
| 2.2.2 条纹状干扰的产生机理 | 第25-26页 |
| 2.3 图像增强效果的评价标准 | 第26-28页 |
| 2.4 基于系统结构上的改进来增强磁光图像 | 第28-32页 |
| 2.4.1 当前系统存在的问题 | 第28-29页 |
| 2.4.2 布儒斯特定律 | 第29-30页 |
| 2.4.3 布儒斯特定律引入磁光成像系统 | 第30-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 基于动态滤波技术的改进方案 | 第33-44页 |
| 3.1 动态滤波技术的基本原理 | 第33-35页 |
| 3.2 基于原位点的动态滤波技术 | 第35-42页 |
| 3.2.1 低频交流激励信号 | 第35-37页 |
| 3.2.2 微调检偏器改善过零点磁光图像 | 第37-39页 |
| 3.2.3 图像融合法以消除θ的影响 | 第39-42页 |
| 3.3 帧差法失效的原因分析 | 第42-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 基于模式识别的磁光图像增强算法研究 | 第44-68页 |
| 4.1 采用模式识别方法的原因 | 第44-46页 |
| 4.2 基于模式识别的干扰特征模型的选择 | 第46-51页 |
| 4.2.1 模式识别方法的两大类别 | 第46-48页 |
| 4.2.2 图像模型的选择 | 第48-49页 |
| 4.2.3 监督式的模式识别方法的选择 | 第49-51页 |
| 4.3 有效的缺陷特征提取方法 | 第51-52页 |
| 4.4 实验数据 | 第52-54页 |
| 4.5 基于特征空间法的基本原理及实现过程 | 第54-58页 |
| 4.6 实验结果分析 | 第58-60页 |
| 4.7 特征空间模型的参数优化 | 第60-65页 |
| 4.7.1 训练数据量的优化 | 第61-62页 |
| 4.7.2 特征空间维数的优化 | 第62-65页 |
| 4.8 与帧差法的对比分析 | 第65-66页 |
| 4.9 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 5.1 全文工作总结 | 第68-69页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第74-75页 |
