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光电自准直仪抗背景光干扰技术研究

致谢第1-5页
摘要第5-6页
ABSTRACT第6-9页
第一章 绪论第9-19页
   ·光电自准直仪的发展概述第9页
   ·光电自准直技术简介第9-11页
   ·光电自准直仪国内外研究现状第11-12页
   ·光电自准直仪抗干扰技术第12-15页
   ·主要研究内容第15-17页
   ·本章小结第17-19页
第二章 影响光电自准直仪测量精度因素分析第19-29页
   ·光电自准直仪自身因素第19-20页
   ·外界环境干扰第20-26页
     ·天光背景特性第20-25页
     ·背景光对光电自准直仪测量精度影响分析第25-26页
   ·本章小结第26-29页
第三章 光调制抗杂光技术第29-55页
   ·光调制抗干扰技术功能指标第29页
   ·光学系统抗背景光设计与分析第29-41页
     ·自准直光学系统技术要求第29页
     ·光学系统结构选型第29-30页
     ·光学系统设计第30-34页
     ·背景光仿真第34-41页
   ·信号处理第41-43页
     ·基本原理第41-42页
     ·光调制抗干扰技术SIMULINK仿真第42-43页
   ·背景光减除关键技术第43-49页
     ·光源功率控制第43-47页
     ·光源调制第47-49页
   ·数据处理程序第49-54页
     ·串口通信第49-50页
     ·上位机程序设计方案第50-53页
     ·软件界面与操作步骤第53-54页
   ·本章小结第54-55页
第四章 实验及结论第55-65页
   ·实验环境简介第55页
   ·精度验证实验第55-63页
   ·实验分析第63-64页
   ·本章小结第64-65页
第五章 总结与展望第65-67页
   ·总结第65页
   ·展望第65-67页
参考文献第67-71页
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果第71页

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