光电自准直仪抗背景光干扰技术研究
致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-19页 |
·光电自准直仪的发展概述 | 第9页 |
·光电自准直技术简介 | 第9-11页 |
·光电自准直仪国内外研究现状 | 第11-12页 |
·光电自准直仪抗干扰技术 | 第12-15页 |
·主要研究内容 | 第15-17页 |
·本章小结 | 第17-19页 |
第二章 影响光电自准直仪测量精度因素分析 | 第19-29页 |
·光电自准直仪自身因素 | 第19-20页 |
·外界环境干扰 | 第20-26页 |
·天光背景特性 | 第20-25页 |
·背景光对光电自准直仪测量精度影响分析 | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-29页 |
第三章 光调制抗杂光技术 | 第29-55页 |
·光调制抗干扰技术功能指标 | 第29页 |
·光学系统抗背景光设计与分析 | 第29-41页 |
·自准直光学系统技术要求 | 第29页 |
·光学系统结构选型 | 第29-30页 |
·光学系统设计 | 第30-34页 |
·背景光仿真 | 第34-41页 |
·信号处理 | 第41-43页 |
·基本原理 | 第41-42页 |
·光调制抗干扰技术SIMULINK仿真 | 第42-43页 |
·背景光减除关键技术 | 第43-49页 |
·光源功率控制 | 第43-47页 |
·光源调制 | 第47-49页 |
·数据处理程序 | 第49-54页 |
·串口通信 | 第49-50页 |
·上位机程序设计方案 | 第50-53页 |
·软件界面与操作步骤 | 第53-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第四章 实验及结论 | 第55-65页 |
·实验环境简介 | 第55页 |
·精度验证实验 | 第55-63页 |
·实验分析 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
·总结 | 第65页 |
·展望 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第71页 |