| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 第一章 分子超激发态简介 | 第12-34页 |
| ·分子超激发态的一些基本概念和研究意义 | 第12-15页 |
| ·研究分子超激发态的实验方法简介 | 第15-30页 |
| ·光电离(质谱)方法和(e,e+ion)方法 | 第16-21页 |
| ·光电子能谱方法和偶极(e,2e)方法 | 第21-25页 |
| ·色散荧光光谱方法 | 第25-27页 |
| ·光电子-光离子符合方法 | 第27-29页 |
| ·研究分子超激发态的实验方法小结 | 第29-30页 |
| 参考文献 | 第30-34页 |
| 第二章 快电子能量损失谱学简介 | 第34-50页 |
| ·电子能量损失谱方法简介 | 第34-37页 |
| ·光学振子强度、广义振子强度和微分散射截面 | 第37-39页 |
| ·广义振子强度密度的实验测量 | 第39-41页 |
| ·实验测量方法 | 第39-40页 |
| ·绝对标定方法 | 第40-41页 |
| ·电离效率、分支比和部分广义振子强度密度 | 第41-42页 |
| ·快电子碰撞中分子跃迁的选择定则 | 第42-48页 |
| ·分子点群理论与选择定则 | 第42-44页 |
| ·异核线性分子跃迁成份 | 第44-46页 |
| ·弯曲构型Cs点群分子跃迁成份 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 第三章 多重符合测量系统的调试和数据处理 | 第50-69页 |
| ·电子能量损失符合谱仪的基本原理和设计 | 第50-56页 |
| ·飞行时间质谱仪的设计参数 | 第50-53页 |
| ·多重符合测量系统的时序设计 | 第53-56页 |
| ·多重符合测量系统的组装调试 | 第56-59页 |
| ·谱仪的机械安装和调整 | 第56-57页 |
| ·电子束的调试 | 第57-58页 |
| ·飞行时间质谱的调试 | 第58-59页 |
| ·多重符合测量系统的困难和改进 | 第59-60页 |
| ·符合测量实验数据处理和初步结果 | 第60-66页 |
| ·数据读入和预处理 | 第61-62页 |
| ·计算能量损失值 | 第62页 |
| ·死时间校正 | 第62-63页 |
| ·统计能量损失谱 | 第63页 |
| ·统计飞行质谱 | 第63页 |
| ·飞行时间谱的本底扣除 | 第63-64页 |
| ·初步结果展示 | 第64-66页 |
| ·单路TAC的缺陷和改进方法 | 第66-68页 |
| ·TAC的工作原理 | 第66页 |
| ·单路TAC的缺陷 | 第66-68页 |
| ·改进方法 | 第68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 第四章 氧分子超激发态退激发的动量转移依赖行为研究 | 第69-77页 |
| ·研究现状 | 第69-70页 |
| ·实验方法 | 第70-71页 |
| ·结果与讨论 | 第71-74页 |
| ·小结 | 第74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 第五章 笑气分子超激发态退激发的动量转移依赖行为研究 | 第77-100页 |
| ·研究现状 | 第77-78页 |
| ·实验方法 | 第78-79页 |
| ·结果与讨论 | 第79-96页 |
| ·峰的标识 | 第79-82页 |
| ·电离-解离的竞争 | 第82-92页 |
| ·峰形参数q随动量转移的变化 | 第92-93页 |
| ·不同电离通道之间的竞争 | 第93-96页 |
| ·小结 | 第96页 |
| 参考文献 | 第96-100页 |
| 总结与展望 | 第100-102页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其它研究成果 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103-105页 |
| 附录Ⅰ 在windows系统下运行数据处理程序手册 | 第105-108页 |
