批量生产控制中的配方分析与异常处理
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第1章 绪论 | 第7-16页 |
·批量生产过程概述 | 第7-8页 |
·ISA S88 标准 | 第8-13页 |
·批量控制模型 | 第9-11页 |
·专业术语 | 第11-13页 |
·研究背景及意义 | 第13-14页 |
·研究的主要内容及文章结构 | 第14-16页 |
第2章 基于子空间算法的批量生产过程配方分析 | 第16-33页 |
·聚类简介 | 第16-18页 |
·聚类的基本概念 | 第16页 |
·经典聚类算法 | 第16-18页 |
·配方数据 | 第18-22页 |
·配方模型建立 | 第18-19页 |
·配方数据特点 | 第19页 |
·配方聚类所要解决的问题 | 第19-20页 |
·子空间算法 | 第20-22页 |
·子空间算法的改进方向 | 第22页 |
·改进的子空间聚类算法 | 第22-26页 |
·算法要求与算法框架 | 第22页 |
·基本定义 | 第22-25页 |
·局部密度阈值 | 第25页 |
·子空间合并 | 第25-26页 |
·子空间搜索 | 第26页 |
·剩余点处理 | 第26页 |
·仿真与分析 | 第26-32页 |
·UCI 数据集仿真结果 | 第26-28页 |
·参数调试 | 第28-29页 |
·配方数据聚类仿真 | 第29-32页 |
·小结 | 第32-33页 |
第3章 JGrafchart 与异常处理 | 第33-50页 |
·JGrafcart 简介 | 第34-35页 |
·JGarfchart 与批量控制 | 第35-37页 |
·JGarfchart 描述物理模型 | 第35-36页 |
·JGarfchart 描述程序模型 | 第36页 |
·配方和设备连接 | 第36-37页 |
·异常处理方法 | 第37-41页 |
·设备层次异常处理 | 第41-44页 |
·配方层次异常处理 | 第44-47页 |
·同步性分析 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第4章 糖化过程异常仿真研究 | 第50-69页 |
·研究背景 | 第50-51页 |
·建立麦汁制备配方模型 | 第51-52页 |
·糖化过程配方建模与仿真 | 第52-57页 |
·糖化过程异常处理仿真 | 第57-68页 |
·开始状态异常 | 第61-63页 |
·阀门异常 | 第63-67页 |
·液位传感器异常 | 第67-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第5章 总结与展望 | 第69-71页 |
·论文工作总结 | 第69-70页 |
·工作展望 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
攻读硕士学位期间的研究成果 | 第77页 |