| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-26页 |
| ·研究背景及意义 | 第14页 |
| ·半导体存储与磁存储的对比 | 第14-18页 |
| ·几种半导体存储技术的对比 | 第16-18页 |
| ·国内外 NAND Flash 记录系统研究现状 | 第18-22页 |
| ·国外研究现状 | 第18-20页 |
| ·国内研究现状 | 第20-22页 |
| ·基于 NAND Flash 设计记录系统难点 | 第22-23页 |
| ·本文研究内容与章节安排 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第2章 NAND Flash 物理底层驱动技术 | 第26-40页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·NAND Flash 内部组织结构 | 第26-29页 |
| ·NAND Flash 物理底层驱动实现 | 第29-38页 |
| ·读 ID | 第29-30页 |
| ·读数据 | 第30-31页 |
| ·写数据 | 第31-33页 |
| ·擦除数据 | 第33-35页 |
| ·读状态 | 第35-36页 |
| ·坏块扫描 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第3章 NAND Flash 底层高速访问技术 | 第40-56页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·内部交叉和并行的物理基础 | 第40-41页 |
| ·并行技术 | 第41-42页 |
| ·流水线技术 | 第42-47页 |
| ·片内并行写入 | 第47页 |
| ·片内交叉写入 | 第47-48页 |
| ·片内交叉并行写入 | 第48页 |
| ·片内交叉写入片外 2 级流水 | 第48-49页 |
| ·NAND Flash 底层访问架构 | 第49-50页 |
| ·各访问方式下 NAND Flash 内数据组织结构 | 第50页 |
| ·各访问方法实验结果及性能评估 | 第50-53页 |
| ·实验条件 | 第50-51页 |
| ·实验结果 | 第51-52页 |
| ·性能评估及结论 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-56页 |
| 第4章 中间转换层技术 | 第56-74页 |
| ·引言 | 第56-57页 |
| ·坏块管理关键技术 | 第57-62页 |
| ·基于位索引的坏块信息快速检索结构 | 第57-59页 |
| ·基于滑动窗口的无效块预匹配机制 | 第59-60页 |
| ·滞后回写机制 | 第60-61页 |
| ·地址映射 | 第61-62页 |
| ·损耗均衡 | 第62-63页 |
| ·错误纠错技术 | 第63-68页 |
| ·汉明码原理简介 | 第65页 |
| ·应用于 NAND Flash 的汉明码 | 第65-68页 |
| ·中间层架构 | 第68-70页 |
| ·实验结果与分析 | 第70-72页 |
| ·实验条件 | 第70页 |
| ·实验结果与分析 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第5章 图像记录任务管理技术 | 第74-88页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·超高速图像记录任务管理设计基础 | 第74-79页 |
| ·图像源特征 | 第74页 |
| ·基于任务管理的高速内存缓存结构 | 第74-79页 |
| ·任务管理方案 | 第79-87页 |
| ·两级数据索引机制 | 第79-82页 |
| ·记录信息表 | 第82-84页 |
| ·图像记录区域表 | 第84页 |
| ·空闲记录区域表 | 第84-85页 |
| ·系统信息表 | 第85页 |
| ·系统状态表 | 第85-86页 |
| ·NAND Flash 阵列中数据结构 | 第86-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 第6章 NAND Flash 图像记录性能测试系统 | 第88-102页 |
| ·引言 | 第88页 |
| ·性能测试遇到的问题 | 第88-90页 |
| ·性能测试模型 | 第90-92页 |
| ·基于指数回归的速度压力模型 | 第90-91页 |
| ·峰值记录速度测试模型 | 第91页 |
| ·基于对数正态分布的时长测试模型 | 第91-92页 |
| ·压力控制器设计 | 第92-95页 |
| ·数据率软件实时控制技术 | 第92-93页 |
| ·数据实时检验技术 | 第93-94页 |
| ·压力控制器结构 | 第94-95页 |
| ·性能测试系统架构 | 第95-96页 |
| ·实验结果与分析 | 第96-99页 |
| ·实验条件 | 第96页 |
| ·数据率调节性能 | 第96-97页 |
| ·数据检验性能 | 第97-98页 |
| ·NAND Flash 记录性能测试结果 | 第98-99页 |
| ·初步可靠性测试结果 | 第98-99页 |
| ·峰值记录速度测试结果 | 第99页 |
| ·实验结果分析 | 第99页 |
| ·本章小结 | 第99-102页 |
| 第7章 嵌入式 NAND Flash 图像记录系统 | 第102-146页 |
| ·引言 | 第102页 |
| ·嵌入式 NAND Flash 记录系统设计方法 | 第102-104页 |
| ·一体化 NAND Flash 记录系统设计方法 | 第102-103页 |
| ·多模块 NAND Flash 记录系统设计方法 | 第103-104页 |
| ·光电经纬仪 NAND Flash 图像记录系统 | 第104-139页 |
| ·光电经纬仪简介 | 第104页 |
| ·光电经纬仪信息处理平台改进方案 | 第104-106页 |
| ·新方案下的图像记录系统 | 第106-108页 |
| ·图像记录系统实现 | 第108-139页 |
| ·器件选择 | 第108-110页 |
| ·6U CPCIE PCB 记录板卡实现 | 第110-116页 |
| ·光纤图像传输技术实现 | 第116-122页 |
| ·PCIE 传输技术实现 | 第122-129页 |
| ·高速 DDR2 缓存技术实现 | 第129-132页 |
| ·千兆网高速数据传输技术实现 | 第132-136页 |
| ·DVI 显示技术实现 | 第136-137页 |
| ·性能测试总结 | 第137-139页 |
| ·ATR 多模块 NAND Flash 图像记录系统 | 第139-144页 |
| ·ATR 多模块 NAND Flash 图像记录系统设计方案 | 第139-141页 |
| ·ATR NAND Flash 图像记录模块设计 | 第141-144页 |
| ·器件选择 | 第142页 |
| ·3U CPCIE NAND Flash 记录 PCB 实现 | 第142-144页 |
| ·本章小结 | 第144-146页 |
| 第8章 全文总结 | 第146-150页 |
| ·本文主要研究内容及创新点 | 第146-147页 |
| ·展望 | 第147-150页 |
| 参考文献 | 第150-156页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第156页 |
