| 中文摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-41页 |
| ·铁磁性物质的基本特点和基本现象 | 第14-18页 |
| ·自发磁化和磁畴 | 第14页 |
| ·铁磁性物质中的能量表述 | 第14-18页 |
| ·磁化和磁滞 | 第18页 |
| ·磁畴研究 | 第18-33页 |
| ·磁畴研究历史 | 第19-20页 |
| ·磁畴观测技术 | 第20-25页 |
| ·磁畴形成的根本原因 | 第25-27页 |
| ·决定磁畴结构的其他因素 | 第27-28页 |
| ·畴壁的形成和类型 | 第28-29页 |
| ·铁磁薄膜内的畴壁 | 第29-33页 |
| ·磁畴对磁性材料磁化和反磁化过程的影响 | 第33-36页 |
| ·单畴颗粒的磁化过程 | 第33-35页 |
| ·实际磁性材料的磁化过程 | 第35-36页 |
| ·磁力显微镜简介 | 第36-38页 |
| ·扫描探针纤维技术和磁力显微镜的发展 | 第36-37页 |
| ·磁力显微镜的研究现状 | 第37-38页 |
| 参考文献 | 第38-41页 |
| 第二章 磁力显微镜原理简介 | 第41-58页 |
| ·SPM的基本结构和原理 | 第41-42页 |
| ·AFM原理 | 第42-52页 |
| ·AFM的基本原理 | 第42-45页 |
| ·AFM探针 | 第45-46页 |
| ·AFM的测试模式 | 第46-52页 |
| ·MFM原理 | 第52-55页 |
| ·MFP-3D型原子力显微镜简介 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
| 第三章 磁力显微镜图像处理及定量化分析 | 第58-81页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·MFM图像增强技术 | 第58-60页 |
| ·图像滤波 | 第58-60页 |
| ·MFM图像特征强化 | 第60页 |
| ·磁力显微镜图像的基本物理模型 | 第60-62页 |
| ·利用傅立叶变换方法计算表面杂散场 | 第62-70页 |
| ·近似方法计算表明杂散场 | 第70-75页 |
| ·样品表面畴结构恢复 | 第75-78页 |
| ·本章小结 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 第四章 条形畴结构FeCoAlON薄膜的磁力显微镜研究 | 第81-102页 |
| ·引言 | 第81页 |
| ·样品的制备和表征 | 第81-84页 |
| ·样品制备设备简介 | 第82-83页 |
| ·样品制备条件 | 第83页 |
| ·样品的表征 | 第83-84页 |
| ·实验结果与讨论 | 第84-98页 |
| ·不同N含量的FeCoAlON薄膜 | 第85-90页 |
| ·不同厚度的FeCoAlON薄膜 | 第90-96页 |
| ·FeCoAlON薄膜条形畴的磁化过程研究 | 第96-98页 |
| ·本章小结 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-102页 |
| 第五章 高性能磁力显微镜探针的制备 | 第102-112页 |
| ·引言 | 第102-103页 |
| ·MFM探针的制备和表征 | 第103-104页 |
| ·实验结果和讨论 | 第104-110页 |
| ·本章小结 | 第110-111页 |
| 参考文献 | 第111-112页 |
| 第六章 结论 | 第112-114页 |
| 发表论文情况 | 第114-115页 |
| 致谢 | 第115页 |