| 第一章 绪论 | 第1-18页 |
| 第一节 高光谱遥感与成像光谱技术的发展 | 第7-11页 |
| 第二节 干涉成像光谱技术及定标系统简述 | 第11-16页 |
| 第三节 本论文完成的主要工作 | 第16-18页 |
| 第二章 干涉成像光谱技术理论研究 | 第18-29页 |
| 第一节 时间调制干涉成像光谱仪的原理 | 第18-22页 |
| 2．1．1 干涉图与复原光谱 | 第18-21页 |
| 2．1．2 图像数据采集和处理 | 第21-22页 |
| 第二节 大孔径静态干涉成像光谱技术的原理 | 第22-28页 |
| 2．2．1 空间调制干涉成像光谱技术 | 第22-24页 |
| 2．2．2 大孔径静态干涉成像光谱技术 | 第24-27页 |
| 2．2．3 干涉型与色散型成像光谱仪的定标比较 | 第27-28页 |
| 第三节 干涉成像光谱仪的图像后处理 | 第28-29页 |
| 第三章 干涉成像光谱仪的定标方案研究 | 第29-43页 |
| 第一节 定标系统的简介 | 第29-30页 |
| 3．1．1 定标分类 | 第29-30页 |
| 3．1．2 成像光谱仪需进行的定标种类 | 第30页 |
| 第二节 实验室绝对光谱辐射定标方案 | 第30-36页 |
| 3．2．1 CCD特性参数的测试 | 第30-32页 |
| 3．2．2 零光程差位置的确定 | 第32页 |
| 3．2．3 干涉仪实际横向剪切量的标定 | 第32-33页 |
| 3．2．4 谱线位置的标定 | 第33页 |
| 3．2．5 光谱辐射定标系统的组建和标定 | 第33-34页 |
| 3．2．6 光谱响应度的计算 | 第34-35页 |
| 3．2．7 光谱辐射定标精度 | 第35-36页 |
| 第三节 星上定标系统方案 | 第36-43页 |
| 3．3．1 星上定标系统 | 第36-39页 |
| 3．3．2 星上相对辐射度定标 | 第39-41页 |
| 3．3．3 总结 | 第41-43页 |
| 第四章 定标系统的实验研究与分析 | 第43-60页 |
| 第一节 系统复原光谱中CCD参数的定标研究 | 第43-48页 |
| 4．1．1 CCD性能参数 | 第43-45页 |
| 4．1．2 CCD性能标定 | 第45-48页 |
| 第二节 定标实验的结论及分析讨论 | 第48-60页 |
| 4．2．1 大孔径静态干涉成像光谱仪的实验室绝对光谱辐射定标 | 第49页 |
| 4．2．2 光谱辐射度计的定标 | 第49-52页 |
| 4．2．3 积分球的标定 | 第52-53页 |
| 4．2．4 使用干涉光谱仪获取积分球输出的数字DN值 | 第53-54页 |
| 4．2．5 使用计算机软件进行光谱复原 | 第54-55页 |
| 4．2．6 谱线位置的标定 | 第55-57页 |
| 4．2．7 光谱分辨率的测定 | 第57页 |
| 4．2．8 系统光谱辐亮度响应率的标定 | 第57-59页 |
| 4．2．9 总结 | 第59-60页 |
| 第五章 基于转镜的干涉光谱技术研究 | 第60-71页 |
| 第一节 高速转镜型光谱仪的理论原理 | 第60-62页 |
| 第二节 基于转镜的高分辨率光谱仪的非线性的讨论 | 第62-67页 |
| 5．2．1 轴上光线的光程差一般公式 | 第62页 |
| 5．2．2 空间光线光程差计算的讨论 | 第62-65页 |
| 5．2．3 非线性的讨论 | 第65-67页 |
| 第三节 仿真实验 | 第67-71页 |
| 5．3．1 实验设计分析 | 第67-70页 |
| 5．3．2 总结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 致 谢 | 第76页 |