| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| ·研究目的及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-18页 |
| ·论文内容安排 | 第18-20页 |
| 2 SOC 中互连总线间的串扰估计模型 | 第20-27页 |
| ·本章概述 | 第20-21页 |
| ·串扰产生的基本理论 | 第21-22页 |
| ·Devgan 及其改进模型 | 第22-23页 |
| ·Martin 改进模型 | 第23-25页 |
| ·仿真结果与比较 | 第25-26页 |
| ·本章小节 | 第26-27页 |
| 3 SOC 中的互连总线间串扰故障激励检测模型 | 第27-44页 |
| ·本章概述 | 第27-29页 |
| ·渐进式串扰故障激励检测模型 | 第29-34页 |
| ·HT 串扰故障激励检测模型 | 第34-38页 |
| ·HT 模型在 SoC 中的实现 | 第38-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 4 串扰故障激励检测模型的实现 | 第44-64页 |
| ·本章概述 | 第44-46页 |
| ·新的双矢量测试BIST 实现方案 | 第46-51页 |
| ·MAF 模型双矢量BIST 实现方案 | 第51-53页 |
| ·渐进式串扰故障激励检测模型的BIST 硬件实现 | 第53-59页 |
| ·基于处理器核的渐进式串扰故障激励检测模型的实现 | 第59-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 5 多层多频SOC 的测试访问机制优化 | 第64-101页 |
| ·本章概述 | 第64-67页 |
| ·HRTAM 测试访问机制 | 第67-71页 |
| ·SoC 的测试访问机制 TAM 的设计与优化的相关研究概述 | 第71-78页 |
| ·单层 SoC 中的多频 TAM 的设计与优化问题 | 第78-92页 |
| ·多层多频 SoC 中的多频 TAM 的设计与优化问题 | 第92-99页 |
| ·本章小结 | 第99-101页 |
| 6 总结 | 第101-104页 |
| ·本文的研究工作 | 第101页 |
| ·本文的创新点 | 第101-102页 |
| ·进一步的研究工作 | 第102-104页 |
| 致谢 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-112页 |
| 附录 攻读博士学位期间发表的论文 | 第112页 |
