摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-11页 |
1 前言 | 第11-19页 |
·转子回转误差的主要概念和基本问题 | 第11-13页 |
·转子回转轴线的定义 | 第11-12页 |
·转子回转误差运动的定义 | 第12页 |
·转子回转误差的测试方法与原理概述 | 第12-13页 |
·目前回转误差分析方法概述 | 第13-17页 |
·转子回转误差的全息谱分析 | 第13-16页 |
·多位法误差分离技术 | 第16页 |
·机床主轴回转精度的CCD 测量系统 | 第16页 |
·传感器的数据融合技术 | 第16-17页 |
·基于非平稳信号特征提取技术 | 第17页 |
·回转误差分析中存在的问题 | 第17-18页 |
·本文的主要研究工作 | 第18-19页 |
2 磁悬浮转子回转误差的复函数分析与评价 | 第19-43页 |
·转子回转误差的测试方法 | 第19-22页 |
·转子回转误差的三点法测试原理与方法 | 第19-21页 |
·转子回转误差的双测头反向测试方法与原理 | 第21-22页 |
·基于复函数的转子回转误差的分析方法 | 第22-27页 |
·基于复函数的回转误差测试方法 | 第22-24页 |
·复函数FFT 算法研究 | 第24-27页 |
·转子回转误差的工程应用分析 | 第27-39页 |
·转子倾角误差运动的分析 | 第27-33页 |
·回转误差对加工精度的影响 | 第33-39页 |
·转子回转误差评价 | 第39-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
3 转子回转误差测量中的均化效应 | 第43-53页 |
·传感器测头的均化效应概述 | 第43页 |
·均化效应的数学分析 | 第43-48页 |
·平均测量间隙的数学描述 | 第43-44页 |
·均化效应对平均测量间隙的影响 | 第44-45页 |
·均化效应的衰减特性分析 | 第45-47页 |
·均化效应的截止频率分析 | 第47-48页 |
·均化效应衰减特性的实验验证 | 第48-51页 |
·实验原理及方案 | 第48-50页 |
·实验数据分析 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-53页 |
4回转误差的分形特征描述方法研究 | 第53-77页 |
·磁悬浮转子轴心轨迹特点分析 | 第53-54页 |
·分形的基本概念 | 第54-55页 |
·布朗运动、白噪声、分维数布朗运动的基本概念 | 第55-56页 |
·转子回转误差运动轨迹的分形特征判别 | 第56-59页 |
·通用的方差算法 | 第56-57页 |
·基于相关分析的方差算法的改进 | 第57-58页 |
·回转误差的实测数据分析 | 第58-59页 |
·回转误差的分形维数算法研究 | 第59-77页 |
·圆规维数 | 第60页 |
·盒计维数 | 第60-62页 |
·回转误差的盒维数分析方法 | 第62-64页 |
·信息维数 | 第64-65页 |
·关联维数 | 第65页 |
·关联维数算法研究 | 第65-68页 |
·仿真信号的分形维数计算 | 第68-77页 |
5 基于R/S 分析的回转误差研究 | 第77-95页 |
·布朗运动、分数布朗运动、HURST 指数三者之间的关系 | 第77-79页 |
·分数布朗运动的时间相关性分析 | 第79-80页 |
·HURST 指数与变标度极差分析(R/S 分析) | 第80-82页 |
·回转误差信号的R/S 分析及算法研究 | 第82-93页 |
·Hurst 指数的计算方法 | 第82页 |
·Vn~LOG(n)曲线的计算方法 | 第82-83页 |
·仿真时序信号的R/S 分析 | 第83-86页 |
·转子回转误差的实测分析 | 第86-93页 |
·本章小结 | 第93-95页 |
6 磁悬浮转子实验系统 | 第95-105页 |
·五自由度磁悬浮转子系统结构及工作原理 | 第95-96页 |
·磁悬浮转子系统的控制原理 | 第96-100页 |
·电磁力的计算 | 第98页 |
·线圈中的电流与转子位移的关系 | 第98-100页 |
·基于反馈控制的磁悬浮转子回转误差运动分析 | 第100-102页 |
·磁悬浮转子的刚度分析 | 第100页 |
·径向回转误差分析 | 第100-102页 |
·基于前馈的控制方案 | 第102-104页 |
·本章小结 | 第104-105页 |
7 结论与展望 | 第105-107页 |
·结论 | 第105-106页 |
·展望 | 第106-107页 |
致谢 | 第107-109页 |
参考文献 | 第109-115页 |
攻读博士学位期间发表的论文及研究成果 | 第115页 |