构建综合性仪器仪表自动检定系统关键技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
·课题研究的背景 | 第10-11页 |
·现代仪器仪表 | 第11-13页 |
·仪器仪表的四个阶段 | 第11-12页 |
·现代仪表的发展方向 | 第12-13页 |
·综合性自动检定系统的现状和趋势 | 第13-16页 |
·自动检定系统的现状 | 第13-16页 |
·自动检定系统的趋势 | 第16页 |
·课题的来源以及研究的内容 | 第16-18页 |
第二章 虚拟仪器技术研究 | 第18-32页 |
·自动测试系统概述 | 第18-23页 |
·自动测试系统概念 | 第18页 |
·自动测试系统的组成 | 第18-19页 |
·自动测试系统的发展概况 | 第19-22页 |
·自动测试系统的分类和应用范围 | 第22-23页 |
·虚拟自动测试系统 | 第23-28页 |
·虚拟仪器的概念和结构 | 第23-26页 |
·基于虚拟仪器技术的自动测试系统软件架构 | 第26-27页 |
·虚拟仪器对自动测试系统的影响 | 第27-28页 |
·ATLAS2000─构建面向信号的自动测试系统 | 第28-32页 |
·面向信号的自动测试系统 | 第28页 |
·ATLAS2000 语言 | 第28-29页 |
·ATLAS2000 中的信号基本模型 | 第29页 |
·ATLAS2000 中的信号装配 | 第29-30页 |
·ATLAS2000 的层次结构 | 第30-32页 |
第三章 GPIB 总线技术研究 | 第32-42页 |
·GPIB 总线研究 | 第32-35页 |
·GPIB 总线的发展 | 第32页 |
·GPIB 的结构 | 第32-34页 |
·GPIB 接口功能 | 第34页 |
·GPIB 的三线握手协议 | 第34-35页 |
·GPIB 的使用限制 | 第35页 |
·混合总线技术 | 第35-40页 |
·混合总线技术 | 第35-37页 |
·混合总线的典型结构 | 第37-40页 |
·新一代总线技术 LXI | 第40-42页 |
·LXI 总线的特点 | 第40-41页 |
·LXI 总线仪器的三个等级 | 第41页 |
·LXI 总线的网络时间协议 | 第41-42页 |
第四章 IVI 技术研究 | 第42-56页 |
·标准 I/O 接口软件 VISA | 第42-46页 |
·VISA 简介 | 第42-43页 |
·VISA 的模型结构 | 第43-44页 |
·VISA 模型的优点 | 第44页 |
·VISA 中的资源 | 第44页 |
·VISA 事件处理模型 | 第44-45页 |
·事件处理的方法 | 第45页 |
·VISA 的数据类型 | 第45-46页 |
·VPP 仪器驱动器 | 第46-50页 |
·VPP 驱动器的外部接口模型 | 第47-48页 |
·VPP 驱动器的内部接口模型 | 第48-50页 |
·IVI-面向信号的仪器驱动器 | 第50-56页 |
·IVI 驱动器模型 | 第51-52页 |
·IVI 类驱动器 | 第52-53页 |
·IVI 引擎 | 第53-54页 |
·IVI 的仿真 | 第54-55页 |
·基于 IVI 驱动器的自动测试系统的结构 | 第55-56页 |
第五章 仪器仪表综合自动检定系统方案 | 第56-66页 |
·仪器仪表综合自动检定系统的需求分析 | 第56-57页 |
·系统架构设计 | 第57-58页 |
·系统硬件方案 | 第58-64页 |
·选择自动测试系统总线 | 第58-61页 |
·选择控制器 | 第61-63页 |
·选择标准校准仪 | 第63-64页 |
·选择主机 | 第64页 |
·确定外围设备 UPS 和打印机 | 第64页 |
·系统软件方案 | 第64-66页 |
·选择 OS | 第64-65页 |
·选择软件开发工具 | 第65-66页 |
第六章 系统测试 | 第66-72页 |
·HP54501A 自动检定系统 | 第66页 |
·测试软件模块 | 第66-67页 |
·测试流程 | 第67-72页 |
·HP54501A 的测试检定要求 | 第67-69页 |
·用户登陆 | 第69页 |
·垂直灵敏度测试 | 第69-72页 |
第七章 结束语 | 第72-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
研究成果 | 第78页 |