液晶盒反射谱用于盒厚测量的研究

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-9页
第一章 绪论	第9-19页
·液晶显示技术的发展概况及现状	第9-10页
·液晶盒厚度对液晶显示的影响	第10-16页
·液晶盒厚度对TN 显示的影响	第11-13页
·液晶盒厚度对STN-LCD 显示的影响	第13-16页
·液晶盒厚度对铁电液晶显示的影响	第16页
·本课题研究的意义	第16-17页
·本文内容简介	第17-19页
第二章 传统盒厚度测量方法	第19-26页
·基于光干涉法盒厚测量	第19-20页
·基于琼斯矩阵计算对液晶盒厚度的测量	第20-22页
·表面等离子体和导模技术	第22-25页
·本章小结	第25-26页
第三章 盒厚度测量物理模型与仿真	第26-40页
·平行平板反射理论	第26-29页
·液晶盒厚度测量原理	第29-38页
·最小二乘法	第29-31页
·拟合曲线仿真	第31-34页
·拟合方法	第34-38页
·本章小结	第38-40页
第四章 光纤光谱仪盒厚度测量实验	第40-56页
·液晶盒的构造	第40-41页
·液晶盒制造	第41页
·测量装置	第41-43页
·数据总体处理过程	第43-44页
·测量数据处理	第44-55页
·计算测量数据极大值	第45-46页
·剔除干扰极值	第46-49页
·液晶盒厚度计算	第49-53页
·光干涉法对盒厚度测量	第53-55页
·本章小结	第55-56页
第五章 结论	第56-57页
致谢	第57-58页
参考文献	第58-61页
附件	第61-72页
个人简历	第72页
攻读硕士学位期间的研究成果	第72-73页