加速器质谱法测量稀有事件探测器材料中的放射性杂质研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-26页 |
| ·稀有事件探测技术 | 第11-17页 |
| ·太阳中微子 | 第11-13页 |
| ·反应堆中微子 | 第13-14页 |
| ·双β衰变 | 第14-15页 |
| ·暗物质 | 第15-17页 |
| ·稀有事件探测中的本底问题 | 第17-20页 |
| ·原始放射性本底 | 第17-19页 |
| ·宇宙成因本底 | 第19页 |
| ·人为因素产生的本底 | 第19-20页 |
| ·放射性杂质研究现状 | 第20-26页 |
| 第二章 加速器质谱概述 | 第26-43页 |
| ·AMS基本原理 | 第26-27页 |
| ·AMS发展 | 第27-34页 |
| ·设备发展 | 第27-29页 |
| ·技术发展 | 第29-30页 |
| ·应用发展 | 第30-34页 |
| ·主要应用领域 | 第30-32页 |
| ·核素测量 | 第32-34页 |
| ·中国原子能科学研究院的AMS系统 | 第34-43页 |
| ·装置介绍 | 第34-36页 |
| ·技术发展 | 第36-40页 |
| ·应用 | 第40-43页 |
| 第三章 样品制备 | 第43-54页 |
| ·研究对象 | 第43-44页 |
| ·CsI晶体 | 第43-44页 |
| ·有机液体闪烁体 | 第44页 |
| ·样品处理 | 第44-50页 |
| ·I元素提取 | 第45-48页 |
| ·试验器材 | 第45-46页 |
| ·样品制备 | 第46-48页 |
| ·K元素提取 | 第48-50页 |
| ·试验器材 | 第48页 |
| ·样品制备 | 第48-50页 |
| ·标准样品 | 第50-54页 |
| ·~(129)I标准 | 第50-51页 |
| ·试验器材 | 第50页 |
| ·配制流程 | 第50-51页 |
| ·~(40)K标准 | 第51-54页 |
| ·试验器材 | 第51-53页 |
| ·配制流程 | 第53-54页 |
| 第四章 核素测量 | 第54-71页 |
| ·~(129)I测量 | 第54-62页 |
| ·实验方案 | 第54-57页 |
| ·样品准备 | 第54-55页 |
| ·设备及参数 | 第55-57页 |
| ·主要参数选择 | 第55-56页 |
| ·飞行时间探测系统 | 第56-57页 |
| ·测量过程 | 第57页 |
| ·核素测量 | 第57-59页 |
| ·主要干扰 | 第57-58页 |
| ·飞行时间原理 | 第58-59页 |
| ·~(129)I测量 | 第59页 |
| ·测量结果 | 第59-62页 |
| ·~(40)K测量 | 第62-71页 |
| ·实验方案 | 第62-64页 |
| ·样品准备 | 第62页 |
| ·设备及参数 | 第62-63页 |
| ·测量过程 | 第63-64页 |
| ·核素测量 | 第64-66页 |
| ·离子源K本底调查 | 第64-65页 |
| ·~(40)K测量 | 第65-66页 |
| ·CsI中~(40)K测量 | 第66页 |
| ·LS中~(40)K测量 | 第66页 |
| ·测量结果 | 第66-71页 |
| ·CsI | 第66-69页 |
| ·LS | 第69-71页 |
| 第五章 结果分析 | 第71-87页 |
| ·制样回收率 | 第71-75页 |
| ·~(129)I回收效率 | 第71页 |
| ·~(40)K回收效率 | 第71-75页 |
| ·火花源质谱法 | 第72-73页 |
| ·加速器质谱法 | 第73-75页 |
| ·标准校验 | 第75-80页 |
| ·~(129)I标准 | 第75-77页 |
| ·~(40)K标准 | 第77-80页 |
| ·SSMS方法 | 第77页 |
| ·AMS方法 | 第77-80页 |
| ·核素含量 | 第80-87页 |
| ·~(129)I分析 | 第80-81页 |
| ·CsI | 第80页 |
| ·LS | 第80-81页 |
| ·~(40)K分析 | 第81-87页 |
| ·CsI | 第81页 |
| ·LS | 第81-87页 |
| 第六章 总结 | 第87-93页 |
| 参考文献 | 第93-98页 |
| 致谢 | 第98-100页 |
| 附录:博士期间文章发表情况 | 第100-103页 |
