| 中文摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1．1 金免疫层析试条检测 | 第8-9页 |
| 1．1．1 金免疫层析试条 | 第8页 |
| 1．1．2 金免疫层析试条检测的现状 | 第8-9页 |
| 1．2 嵌入式系统技术与应用 | 第9-12页 |
| 1．2．1 嵌入式系统及发展 | 第9-10页 |
| 1．2．2 嵌入式系统的特点和要求 | 第10-12页 |
| 1．2．3 基于DSP 嵌入式系统的智能检测仪器 | 第12页 |
| 1．3 本文研究的内容 | 第12-14页 |
| 第二章 金免疫层析试条定量检测技术 | 第14-21页 |
| 2．1 金免疫层析法 | 第14-16页 |
| 2．1．1 胶体金标记技术 | 第14页 |
| 2．1．2 层析法 | 第14-15页 |
| 2．1．3 金免疫层析法 | 第15-16页 |
| 2．2 金免疫层析试条定性检测 | 第16-17页 |
| 2．3 金免疫层析试条定量检测技术 | 第17-21页 |
| 2．3．1 定量技术要求 | 第17页 |
| 2．3．2 定量检测数学建模 | 第17-21页 |
| 第三章 仪器光电图像传感装置的设计 | 第21-35页 |
| 3．1 引言 | 第21页 |
| 3．2 光电图像传感器 | 第21-30页 |
| 3．2．1 光电图像传感器的选择 | 第21-22页 |
| 3．2．2 CCD 图像传感器 | 第22-30页 |
| 3．3 CCD 光学成像与照明系统 | 第30-35页 |
| 3．3．1 CCD 光学成像系统 | 第30-32页 |
| 3．3．2 照明系统 | 第32-35页 |
| 第四章 金免疫层析定量检测的信息处理 | 第35-44页 |
| 4．1 引言 | 第35页 |
| 4．2 试条检测区图像降噪 | 第35-37页 |
| 4．2．1 中值滤波 | 第35-36页 |
| 4．2．2 中值滤波在定量检测中的应用 | 第36-37页 |
| 4．3 试条检测线边缘的识别 | 第37-44页 |
| 4．3．1 小波变换 | 第38-40页 |
| 4．3．2 多分辨率分析与小波变换的快速算法 | 第40-42页 |
| 4．3．3 基于小波变换的试条检测线边缘的识别 | 第42-44页 |
| 第五章 定量智能检测仪器的硬件设计 | 第44-52页 |
| 5．1 引言 | 第44页 |
| 5．2 基于TMS320F2812 的嵌入式系统硬件设计 | 第44-49页 |
| 5．2．1 TMS320F2812 DSP | 第44-46页 |
| 5．2．2 主要接口电路设计 | 第46-49页 |
| 5．3 CCD 信号采集与驱动电路设计 | 第49-50页 |
| 5．4 CCD 数据传输系统设计 | 第50-51页 |
| 5．5 CCD 照明电路设计 | 第51-52页 |
| 第六章 定量智能检测仪器的软件设计 | 第52-70页 |
| 6．1 引言 | 第52页 |
| 6．2 嵌入式实时操作系统概述 | 第52页 |
| 6．3 嵌入式实时操作系统μC/OS-Ⅱ | 第52-58页 |
| 6．3．1 μC/OS-Ⅱ概述 | 第52-53页 |
| 6．3．2 μC/OS-Ⅱ特点 | 第53-54页 |
| 6．3．3 μC/OS-Ⅱ实时内核原理 | 第54-58页 |
| 6．4 μC/OS-Ⅱ的移植 | 第58-62页 |
| 6．4．1 μC/OS-Ⅱ的移植条件 | 第58-59页 |
| 6．4．2 μC/OS-Ⅱ在TMS320F2812 上的移植 | 第59-62页 |
| 6．5 仪器底层软件设计 | 第62-66页 |
| 6．5．1 底层软件总体设计 | 第62-63页 |
| 6．5．2 键盘软件模块 | 第63-64页 |
| 6．5．3 LCD 软件模块 | 第64-65页 |
| 6．5．4 日历时钟软件模块 | 第65页 |
| 6．5．5 数据采集与传输系统软件设计 | 第65-66页 |
| 6．6 检测信号的数据处理模块 | 第66-70页 |
| 6．6．1 检测信号的中值滤波算法 | 第67页 |
| 6．6．2 小波变换的检测线边缘识别算法 | 第67-68页 |
| 6．6．3 检测数据分析 | 第68-70页 |
| 结束语 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和研究项目情况 | 第77-78页 |
| 个人简历 | 第78页 |