| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·电路测试研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| ·内建自测试应用于数模混合电路的必要性 | 第9-11页 |
| ·论文的安排 | 第11-12页 |
| 第二章 内建自测试简介 | 第12-18页 |
| ·内建自测试的架构及分类 | 第12-13页 |
| ·测试方法 | 第13-16页 |
| ·线性反馈移位寄存器 | 第16页 |
| ·伪随机测试 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 内建自测试的低功耗设计 | 第18-34页 |
| ·低功耗设计的必要性 | 第18-19页 |
| ·功率消耗模式 | 第19-20页 |
| ·低功率内建自测试架构 | 第20-22页 |
| ·基本概念 | 第20-21页 |
| ·基本架构 | 第21-22页 |
| ·产生的问题 | 第22页 |
| ·减少测试长度 | 第22-26页 |
| ·输入相容概述 | 第22-25页 |
| ·输入相容的原理 | 第25页 |
| ·演算法 | 第25-26页 |
| ·选择输入驱动方式的步骤 | 第26-33页 |
| ·选择输入驱动方式的评估 | 第26-29页 |
| ·实验步骤 | 第29-30页 |
| ·实验结果 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 BIST 在数模转换器中的应用 | 第34-44页 |
| ·数模转换器的简介与应用 | 第34-36页 |
| ·数模转换器的静态误差 | 第36-40页 |
| ·已提出的测试DAC 的BIST 的结构 | 第40-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 用于测试DAC 的BIST 结构的优化设计 | 第44-69页 |
| ·测试DAC 的BIST 结构的设计考虑 | 第44-45页 |
| ·具体的子电路 | 第45-51页 |
| ·误差放大器 | 第45-46页 |
| ·比较器 | 第46-48页 |
| ·线性系统和模拟加法器 | 第48-51页 |
| ·静态误差的测试 | 第51-57页 |
| ·微分非线性（DNL）误差的测量 | 第51-53页 |
| ·偏移误差、增益误差的测试和自测试 | 第53-55页 |
| ·积分非线性（INL）误差的测量 | 第55-57页 |
| ·校准电路 | 第57-60页 |
| ·误差原因 | 第57页 |
| ·校准步骤和具体电路 | 第57-60页 |
| ·控制器和测试步骤 | 第60-62页 |
| ·仿真结果 | 第62-68页 |
| ·BIST 电路的仿真与计算 | 第62-67页 |
| ·校准电路的仿真实例 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 结束语 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |