| 第一章 绪论 | 第1-10页 |
| 1．1 温度试验设备检定的必要性和现状 | 第7-8页 |
| 1．2 课题的提出、目的及意义 | 第8-9页 |
| 1．3 技术指标 | 第9页 |
| 1．4 重点解决的问题 | 第9-10页 |
| 第二章 设计原理 | 第10-20页 |
| 2．1 分析检测对象和任务 | 第10-12页 |
| 2．1．1 校准温度点的选择 | 第10页 |
| 2．1．2 测试点的位置 | 第10页 |
| 2．1．3 测试点的数量 | 第10-11页 |
| 2．1．4 温度的校准 | 第11页 |
| 2．1．5 数据处理 | 第11-12页 |
| 2．2 标准温度传感器的选择 | 第12-13页 |
| 2．3 测温电路原理 | 第13-17页 |
| 2．4 主要工作 | 第17页 |
| 2．5 测温精度的实现 | 第17-20页 |
| 第三章 硬件电路设计 | 第20-40页 |
| 3．1 恒流源电路 | 第20-21页 |
| 3．2 信号放大电路 | 第21-22页 |
| 3．3 A/D转换、单片机处理及通信电路 | 第22-34页 |
| 3．3．1 MSC1210单片机功能介绍 | 第23-29页 |
| 3．3．2 MSC1210在系统编程下载电路的设计 | 第29-32页 |
| 3．3．3 单片机及外围控制电路线路图 | 第32-34页 |
| 3．4 液晶显示模块 | 第34-40页 |
| 3．4．1 引脚 | 第34-35页 |
| 3．4．2 字符型液晶显示控制及驱动器ST7920A | 第35-40页 |
| 第四章 软件设计 | 第40-61页 |
| 4．1 编程工具的选择与软件主流程图 | 第40-42页 |
| 4．2 单片机初始化 | 第42-44页 |
| 4．3 液晶显示器初始化 | 第44-47页 |
| 4．4 辅助中断与 A/D采样 | 第47-49页 |
| 4．5 系统的自校正 | 第49-51页 |
| 4．6 热电偶冷端补偿 | 第51-52页 |
| 4．7 温度转化 | 第52页 |
| 4．8 片内flash存储器分区 | 第52-54页 |
| 4．9 检定软件的编写 | 第54-61页 |
| 4．9．1 水晶报表(Crystal Reports)简介 | 第55页 |
| 4．9．2 检定软件流程图 | 第55-56页 |
| 4．9．3 功能模块说明 | 第56-61页 |
| 第五章 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
