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三层交换机高可靠性的研究与实现

第一章 绪论第1-11页
   ·本文的研究背景第7-8页
   ·本文的研究目的第8-10页
   ·本文的组织结构第10-11页
第二章 三层交换机系统整体结构第11-20页
   ·分布式系统整体硬件结构第11-15页
   ·分布式系统整体软件结构第15-18页
   ·论文研究所涉及的主要软、硬件模块第18-20页
第三章 带外通信技术的原理与实现第20-35页
   ·带外通信技术的设计原理第20-21页
   ·Intel82559ER 的组成单元第21-22页
   ·Intel82559ER 的工作机理第22-30页
     ·初始化第22-26页
     ·数据的发送第26-28页
     ·数据的接收第28-30页
     ·中断处理第30页
   ·带外通信技术的实现第30-35页
     ·带外通信架构第30-31页
     ·代码中Intel 82559 驱动部分转发报文流程第31-33页
     ·带外通信规则第33-35页
第四章 系统高可靠性的设计与实现第35-75页
   ·主备倒换技术第35-37页
     ·热备份第36页
     ·主备倒换检测第36页
     ·主备倒换处理第36-37页
   ·热插拔技术第37-40页
     ·热插拔检测第37-38页
     ·热插拔处理第38-40页
   ·DEVSM 模块的设计第40-60页
     ·设备状态机工作机理第41-49页
     ·主备选举的实现第49-51页
     ·接口板注册过程第51-52页
     ·热备份的实现第52-54页
     ·主备倒换的实现第54-55页
     ·热插处理的实现第55-56页
     ·热拔处理的实现第56-57页
     ·DEVSM 重要数据结构第57-60页
   ·CDP 模块设计第60-75页
     ·通道初始化部分第62-64页
     ·异步CDP 通信过程第64-66页
     ·同步CDP 通信过程第66-67页
     ·CDP 重传和重连接第67-68页
     ·CDP 重要数据结构第68-75页
第五章 装备测试软件的设计与实现第75-82页
   ·PCI 外围设备测试第76页
   ·控制通道硬件测试第76-79页
     ·芯片寄存器测试第76-77页
     ·芯片内部自环测试第77页
     ·带外通信板间环回测试第77-79页
   ·交换系统硬件测试第79-82页
     ·芯片初始化模块第79页
     ·寄存器读写、内存访问模块第79-80页
     ·自环测试模块第80-81页
     ·带内通讯模块第81-82页
第六章 系统性能测试第82-88页
   ·Intel82559ER 数据收发效率测试第82-85页
     ·测试方法第82-83页
     ·测试结果第83-85页
     ·测试结论第85页
   ·CDP 模块性能测试第85-88页
     ·测试方法第85-86页
     ·测试结果第86-87页
     ·测试结论第87-88页
第七章 全文总结第88-89页
参考文献第89-92页
附录第92-93页
摘要第93-96页
Abstract第96-100页
致谢第100-101页
导师及作者简介第101页

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