摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-6页 |
第一章 文献综述 | 第6-32页 |
1.1 玻璃及其性质 | 第6-9页 |
1.1.1 玻璃的优点 | 第6-7页 |
1.1.2 玻璃的化学组成 | 第7页 |
1.1.3 玻璃的表面结构 | 第7页 |
1.1.4 玻璃表面与酸的反应 | 第7-8页 |
1.1.5 玻璃表面与碱的反应 | 第8-9页 |
1.1.6 玻璃表面与氢氟酸的反应 | 第9页 |
1.2 玻璃微流控芯片通道加工技术 | 第9-15页 |
1.2.1 光刻技术 | 第10-11页 |
1.2.2 芯片蚀刻 | 第11-13页 |
1.2.3 不使用牺牲层的光刻、蚀刻技术 | 第13页 |
1.2.4 非光刻蚀刻技术 | 第13-14页 |
1.2.5 键合 | 第14-15页 |
1.3 溶液中分子扩散系数的测定 | 第15-18页 |
1.4 芯片毛细管电泳的分离效率和谱带增宽 | 第18-29页 |
1.4.1 毛细管电泳谱带增宽的基本规律 | 第18-20页 |
1.4.2 焦耳热效应导致的谱带增宽 | 第20-21页 |
1.4.3 芯片电泳中的进样增宽 | 第21-27页 |
1.4.3.1 以十字通道为基础的简单进样法 | 第21-23页 |
1.4.3.2 夹流进样法 | 第23-24页 |
1.4.3.3 电场强度对进样增宽的影响 | 第24-25页 |
1.4.3.4 夹流注样的样品歧视 | 第25-26页 |
1.4.3.5 窄试样通道的十字进样 | 第26页 |
1.4.3.6 双十字通道进样 | 第26-27页 |
1.4.4 芯片电泳中的检测增宽 | 第27页 |
1.4.5 芯片电泳中的弯道效应 | 第27-28页 |
1.4.6 通道壁对谱带增宽的影响 | 第28-29页 |
参考文献 | 第29-32页 |
第二章 微流控电泳芯片通道质量及谱带增宽研究 | 第32-71页 |
2.1 前言 | 第32页 |
2.2 理论及公式推导 | 第32-34页 |
2.3 实验条件及方法 | 第34-39页 |
2.3.1 仪器设备 | 第34页 |
2.3.2 实验材料 | 第34-35页 |
2.3.3 试剂及溶液配制 | 第35页 |
2.3.4 实验方法 | 第35-39页 |
2.3.4.1 微流控电泳芯片制备 | 第35-36页 |
2.3.4.2 电泳注样、分离的电源设置及流量监测和计算 | 第36-37页 |
2.3.4.3 得到对称夹流的方法 | 第37-38页 |
2.2.4.4 分离场强的计算 | 第38页 |
2.3.4.5 电泳分离操作 | 第38-39页 |
2.4 结果与讨论 | 第39-68页 |
2.4.1 芯片通道质量的改进 | 第39-43页 |
2.4.1.1 蚀刻液的选择 | 第39-40页 |
2.4.1.2 蚀刻液的优化 | 第40-41页 |
2.4.1.3 掩模对芯片质量的影响 | 第41-43页 |
2.4.2 分离场强与样品的迁移速度的线性测定 | 第43-45页 |
2.4.3 电泳分离分析的精密度 | 第45-47页 |
2.4.4 动态扩散系数的测定 | 第47-50页 |
2.4.5 芯片通道质量对谱带增宽的影响 | 第50-53页 |
2.4.6 进样对电泳谱带增宽的影响 | 第53-57页 |
2.4.7 检测系统响应时间对电泳分离检测的影响 | 第57-68页 |
2.4.7.1 分离场强对电泳谱图峰宽的影响 | 第57-59页 |
2.4.7.2 检测系统响应时间的估算 | 第59-61页 |
2.4.7.3 检测系统响应时间对谱带增宽的影响 | 第61-64页 |
2.4.7.4 检测系统响应时间对扩散系数测定的影响 | 第64-66页 |
2.4.7.5 检测系统响应时间对样品峰分离度的影响 | 第66-68页 |
2.4.8 本文涉及的谱带增宽因素的小结 | 第68页 |
2.5 总结 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-71页 |
致谢 | 第71页 |