摘要 | 第1-9页 |
第一章 成像光谱仪的应用及其发展 | 第9-18页 |
1.1 成像光谱仪的应用 | 第9-11页 |
1.2 成像光谱仪的分类 | 第11-18页 |
1.2.1色散型成像光谱仪 | 第11-12页 |
1.2.2 干涉型成像光谱仪 | 第12-15页 |
1.2.3 层析型成像光谱仪 | 第15-18页 |
第二章 层析成像光谱仪的基本原理及仿真试验 | 第18-28页 |
2.1 层析成像的核心思想 | 第18页 |
2.2 Radon变换及其性质 | 第18-21页 |
2.2.1 Radon变换的定义及性质 | 第18-20页 |
2.2.2 Radon变换和Fourier变换的关系 | 第20-21页 |
2.3 层析逆变换的算法 | 第21-23页 |
2.3.1 Radon求逆法 | 第21-22页 |
2.3.2 Fourier变换求逆法 | 第22页 |
2.3.3 解析延拓法 | 第22页 |
2.3.4 系列重构法 | 第22-23页 |
2.4 层析成像的有限投影角问题 | 第23页 |
2.5 计算机仿真实验 | 第23-26页 |
总结 | 第26-28页 |
第三章 画幅式层析成像光谱仪 | 第28-39页 |
3.1 面幅式层析成像光谱仪的基本原理 | 第29-32页 |
3.2 实验装置的设计和研制 | 第32-39页 |
3.2.1 关于光栅分束器件设计的考虑 | 第32-34页 |
3.2.2 光学总体设计方法和结果 | 第34页 |
3.2.3 光机系统的结构设计 | 第34-39页 |
第四章 层析成像光谱仪复原算法的数学模型及其分析 | 第39-47页 |
4.1 复原算法的数学模型 | 第39-41页 |
4.2 共轭梯度算法(CG算法) | 第41-44页 |
4.2.1 算法的给出 | 第41-43页 |
4.2.2 共扼梯度法的全局收敛性 | 第43-44页 |
4.3 期望最大算法(OSEM算法) | 第44-47页 |
4.3.1 简介Multiplicatlve OSEM | 第44页 |
4.3.2 标准EM算法收敛分析 | 第44-47页 |
第五章 共轭梯度法在实际中的应用 | 第47-56页 |
5.1 软件流程 | 第47-50页 |
5.1.1 编写理念 | 第47页 |
5.1.2 程序具体流程 | 第47-50页 |
5.2 程序解析及问题处理 | 第50-54页 |
5.3 试验结果 | 第54-56页 |
第六章 期望最大算法在实际中的应用 | 第56-64页 |
6.1 软件流程 | 第56-58页 |
6.1.1 基本思想 | 第56页 |
6.1.2 具体流程 | 第56-58页 |
6.2 程序解析及问题处理 | 第58-63页 |
6.3 试验结果 | 第63-64页 |
总结 | 第64-65页 |
附:程序清单 | 第65-70页 |
致谢 | 第70页 |