基于USB总线虚拟仪器测试平台的研究
| 中文摘要 | 第1-7页 |
| 英文摘要 | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1．1 引言 | 第8页 |
| 1．2 虚拟仪器概念的讨论及国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1．3 USB总线概述 | 第10-11页 |
| 1．4 课题来源及主要研究内容 | 第11页 |
| 1．5 虚拟仪器测试平台整体设计 | 第11-12页 |
| 1．6 本章小结 | 第12-13页 |
| 第2章 USB总线原理和协议的研究 | 第13-19页 |
| 2．1 USB系统通讯模型层次关系 | 第13-14页 |
| 2．2 USB设备的逻辑结构 | 第14-15页 |
| 2．3 USB总线通信协议 | 第15-18页 |
| 2．3．1 USB传输包的基本结构 | 第15-17页 |
| 2．3．2 保证数据同步的机制 | 第17-18页 |
| 2．4 USB人机接口设备类 | 第18-19页 |
| 2．5 本章小结 | 第19页 |
| 第3章 通用USB设备接口的研究与开发 | 第19-29页 |
| 3．1 通用USB设备接口的整体设计 | 第19-20页 |
| 3．2 通用USB设备接口的硬件设计 | 第20-24页 |
| 3．2．1 芯片的选择 | 第20-21页 |
| 3．2．2 接口硬件的设计 | 第21-24页 |
| 3．3 通用USB设备接口固件的开发 | 第24-27页 |
| 3．3．1 接口固件的整体规划 | 第24页 |
| 3．3．2 满足HID要求的接口固件 | 第24-25页 |
| 3．3．3 通用USB设备接口控制固件设计 | 第25-27页 |
| 3．4 通用USB接口数据通信的两个阶段 | 第27-28页 |
| 3．5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第4章 多路通道扫描器的研究与开发 | 第29-43页 |
| 4．1 整体设计方案 | 第29-30页 |
| 4．2 嵌入式控制模块的设计 | 第30-35页 |
| 4．2．1 微处理器选择及控制模块硬件设计 | 第30-32页 |
| 4．2．2 I/O口编程与总线接口设计 | 第32-33页 |
| 4．2．3 微处理器与接口芯片的SPI通信 | 第33-35页 |
| 4．3 测试功能模块的设计 | 第35-40页 |
| 4．3．1 器件选择及I2C总线通信 | 第35-38页 |
| 4．3．2 功能模块的硬件设计 | 第38-40页 |
| 4．4 显示模块的设计与实现 | 第40页 |
| 4．5 多路通道扫描器控制固件的开发 | 第40-42页 |
| 4．6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 面向测试上层软件的开发 | 第43-51页 |
| 5．1 面向测试通信应用软件的开发 | 第43-48页 |
| 5．1．1 HID类驱动程序的研究 | 第43-44页 |
| 5．1．2 主机通信应用程序的开发 | 第44-46页 |
| 5．1．3 VB中对API函数的调用过程 | 第46-48页 |
| 5．2 主机测试软件的开发 | 第48-50页 |
| 5．2．1 主机测试软件的设计思想 | 第48-49页 |
| 5．2．2 USB总线接口测试仪器的实现 | 第49-50页 |
| 5．3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第6章 示例—印刷电路板（PCB）测试平台 | 第51-60页 |
| 6．1 印刷电路板测试的内容和方法 | 第51-52页 |
| 6．2 印刷电路板测试平台整体设计 | 第52-55页 |
| 6．3 多路通道扫描器设计的独到之处 | 第55页 |
| 6．4 印刷电路板测试平台工作过程 | 第55-56页 |
| 6．5 测试过程误差分析 | 第56-58页 |
| 6．6 本章小结 | 第58-60页 |
| 结论 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 在攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-64页 |
