基于Intel 80C196KB控制的真空磁力控制站测控系统的研究
| 1 绪论 | 第1-13页 |
| ·单片机的发展与应用 | 第9-10页 |
| ·真空磁力控制站测控系统的发展与现状 | 第10-11页 |
| ·研究智能型真空磁力控制站测控系统的意义 | 第11-12页 |
| ·本文的主要工作和内容安排 | 第12-13页 |
| 2 测控系统总体设计 | 第13-20页 |
| ·CPU及扩展芯片的选择 | 第13-14页 |
| ·控制方式的确定 | 第14-16页 |
| ·测控系统保护功能及动作指标的确定 | 第16-17页 |
| ·测控系统框图 | 第17-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 测控系统硬件电路设计 | 第20-53页 |
| ·主控电路设计 | 第20-27页 |
| ·Intel 80C196KB单片机简介 | 第21-25页 |
| ·外部存储器的扩展 | 第25-26页 |
| ·外部输入输出口的扩展 | 第26-27页 |
| ·人机对话通道的设计 | 第27-30页 |
| ·BCD拨码盘读取电路 | 第28-30页 |
| ·液晶显示 | 第30页 |
| ·漏电保护检测原理 | 第30-37页 |
| ·漏电检测原理 | 第31-33页 |
| ·附加直流电压和电流的确定 | 第33-35页 |
| ·漏电闭锁电阻值的确定 | 第35-36页 |
| ·系统试验 | 第36-37页 |
| ·电压保护单元 | 第37-39页 |
| ·电压保护硬件电路 | 第38-39页 |
| ·电压保护试验 | 第39页 |
| ·过载保护设计 | 第39-46页 |
| ·过载保护的原理 | 第40-42页 |
| ·过载保护时限的确定 | 第42-43页 |
| ·过载保护硬件电路 | 第43-44页 |
| ·电流特性测试及试验 | 第44-46页 |
| ·断相保护设计 | 第46-52页 |
| ·断相运行电流 | 第46-49页 |
| ·断相信号鉴别电路 | 第49-51页 |
| ·断相特性测试与试验 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 4 测控系统的软件设计 | 第53-63页 |
| ·软件设计概述 | 第53-54页 |
| ·系统软件开发环境和软件结构 | 第54-57页 |
| ·系统软件开发环境 | 第54-55页 |
| ·系统软件结构 | 第55-57页 |
| ·功能模块程序设计 | 第57-62页 |
| ·主控模块 | 第57页 |
| ·初始化及自检模块 | 第57页 |
| ·额定参数检测模块 | 第57-58页 |
| ·额定参数计算模块 | 第58页 |
| ·模拟信号的采样处理 | 第58-60页 |
| ·故障检测模块 | 第60页 |
| ·中断响应模块 | 第60-61页 |
| ·液晶显示模块 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 5 测控系统的抗干扰设计 | 第63-74页 |
| ·系统干扰的主要来源及其危害 | 第63-64页 |
| ·干扰的主要来源 | 第63-64页 |
| ·干扰的主要危害 | 第64页 |
| ·硬件的抗干扰设计 | 第64-69页 |
| ·电源系统的抗干扰措施 | 第65页 |
| ·空间电磁幅射的抗干扰措施 | 第65-66页 |
| ·过程通道干扰及抗干扰措施 | 第66-67页 |
| ·印刷电路板的抗干扰设计 | 第67-69页 |
| ·CPU的抗干扰设计 | 第69-70页 |
| ·软件的抗干扰设计 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 6 系统调试 | 第74-80页 |
| ·实验条件 | 第74页 |
| ·系统控制功能试验 | 第74-76页 |
| ·控制方式的设定 | 第74-76页 |
| ·系统控制功能试验 | 第76页 |
| ·系统保护功能试验 | 第76-78页 |
| ·起动前试验 | 第76-77页 |
| ·合闸后故障试验 | 第77-78页 |
| ·系统无故障运行试验 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 7 研究结论 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 附录1 | 第85-86页 |
| 附录2 | 第86-88页 |
| 作者在攻读硕士期间的研究成果 | 第88页 |
