| 第一章 引 言 | 第1-11页 |
| 1．1 全息图热固定技术的意义 | 第8-9页 |
| 1．2 热固定技术的国内外研究概况 | 第9-10页 |
| 1．3 本文的主要内容 | 第10-11页 |
| 第二章 热固定技术的理论 | 第11-28页 |
| 2．1 体全息存储机理 | 第11-15页 |
| 2．1．1 体全息存储记录过程 | 第11-12页 |
| 2．1．2 写入擦除时间常数 | 第12-13页 |
| 2．1．3 晶体的角宽度 | 第13-15页 |
| 2．2 体全息图热固定的机理 | 第15-23页 |
| 2．2．1 热固定的概念 | 第15-16页 |
| 2．2．2 电子和离子输运模型 | 第16-19页 |
| 2．2．3 热固定定影过程 | 第19-20页 |
| 2．2．4 高温时电子暗衰减 | 第20-21页 |
| 2．2．5 热固定的显影过程 | 第21-22页 |
| 2．2．6 固定后离子光栅的衰减 | 第22-23页 |
| 2．3 多重全息图分批热固定的机理 | 第23-28页 |
| 2．3．1 多重全息图分批热固定的方法 | 第23-24页 |
| 2．3．2 分批定影热固定机理 | 第24-26页 |
| 2．3．3 分批热固定对多重全息图衍射效率的影响 | 第26-28页 |
| 第三章 多重光栅热固定的实验研究 | 第28-32页 |
| 3．1 实验测定晶体样品的响应时间常数 | 第28-30页 |
| 3．1．1 写入时间常数的测量 | 第28页 |
| 3．1．2 常规擦除时间常数（组内擦除）的测量 | 第28-29页 |
| 3．1．3 组间擦除时间常数的测量 | 第29页 |
| 3．1．4 实验结果 | 第29-30页 |
| 3．2 晶体角宽度的测量 | 第30-32页 |
| 第四章 对图像热固定的实验研究 | 第32-42页 |
| 4．1 检测图像质量的指标 | 第32-36页 |
| 4．1．1 检测图像质量的指标 | 第32-34页 |
| 4．1．2 分批热固定的实验 | 第34-36页 |
| 4．2 对单幅图像的多次热固定的实验研究 | 第36-40页 |
| 4．3 对多幅图像一次热固定的信噪比与分批热固定的信噪比进行比较 | 第40-42页 |
| 结果和讨论 | 第42-43页 |
| 参考文献 | 第43-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 读研期间参加的科研项目和发表的论文 | 第46页 |