| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 第一章 概述 | 第7-12页 |
| 1．1 智能控制仪器的特点、应用与发展趋势 | 第7-9页 |
| 1．1．1 智能控制仪器的特点与应用 | 第7-8页 |
| 1．1．2 智能控制仪器的发展 | 第8-9页 |
| 1．2 智能型二极管测试控制仪的国内外发展现状 | 第9-10页 |
| 1．2．1 国外发展现状 | 第9页 |
| 1．2．2 国内发展现状 | 第9-10页 |
| 1．3 本文的主要研究内容 | 第10-12页 |
| 1．3．1 本文研究的必要性 | 第10页 |
| 1．3．2 本文研究的目的 | 第10-12页 |
| 第二章 总体设计方案 | 第12-15页 |
| 2．1 半导体二极管测试分选系统简介 | 第12-14页 |
| 2．2 智能半导体二极管测试分选控制仪总体设计的考虑 | 第14-15页 |
| 第三章 智能型二极管测试控制仪的硬件设计 | 第15-33页 |
| 3．1 硬件总体结构及工作原理 | 第15-17页 |
| 3．2 主控制电路的设计 | 第17-20页 |
| 3．3 键盘显示电路及功能介绍 | 第20-22页 |
| 3．4 参数测试电路及工作原理 | 第22-27页 |
| 3．4．1 极性测试电路 | 第22-24页 |
| 3．4．2 正向压降VF测试电路 | 第24-25页 |
| 3．4．3 反向饱和电流IR测试电路 | 第25-27页 |
| 3．5 其他辅助电路 | 第27-33页 |
| 3．5．1 计数显示电路 | 第27页 |
| 3．5．2 其他电路 | 第27-33页 |
| 第四章 智能二极管测试控制仪的软件设计 | 第33-46页 |
| 4．1 软件设计思想 | 第33页 |
| 4．2 主程序流程图及说明 | 第33-35页 |
| 4．3 参数设定子程序流程图及说明 | 第35-39页 |
| 4．4 外部测试程序流程图及说明 | 第39-43页 |
| 4．4．1 在线自检程序 | 第40页 |
| 4．4．2 中断服务程序 | 第40页 |
| 4．4．3 测试子程序 | 第40-43页 |
| 4．5 手动测试分选程序流程图及说明 | 第43-46页 |
| 第五章 提高仪器抗干扰性能的主要措施 | 第46-51页 |
| 5．1 干扰源 | 第46页 |
| 5．2 硬件抗干扰措施 | 第46-49页 |
| 5．2．1 抗过程通道干扰措施 | 第46-47页 |
| 5．2．2 供电系统的抗干扰措施 | 第47页 |
| 5．2．3 抗地线干扰措施 | 第47-48页 |
| 5．2．4 工作状态监控电路 | 第48-49页 |
| 5．3 软件抗干扰措施 | 第49-51页 |
| 5．3．1 数据采集的抗干扰措施 | 第49页 |
| 5．3．2 程序运行失常的抗干扰措施 | 第49-51页 |
| 第六章 结论与进一步工作 | 第51-55页 |
| 6．1 结论 | 第51-54页 |
| 6．1．1 本文所做的工作 | 第51-52页 |
| 6．1．2 仪器的特点 | 第52-54页 |
| 6．2 进一步工作 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56页 |