| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-11页 |
| ·研究现状与分析 | 第11页 |
| ·本文的主要工作 | 第11-12页 |
| ·论文组织结构 | 第12-14页 |
| 第2章 布尔可满足性问题 | 第14-18页 |
| ·SAT 问题简介 | 第14-15页 |
| ·基本求解方法 | 第15-17页 |
| ·应用范例 | 第17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 ATPG 技术 | 第18-30页 |
| ·数字电路测试技术 | 第18-20页 |
| ·故障和故障模型 | 第20-23页 |
| ·电路故障 | 第20-21页 |
| ·故障模型 | 第21-23页 |
| ·数字电路的 ATPG 技术 | 第23-28页 |
| ·ATPG 简介 | 第23-25页 |
| ·基本求解方法 | 第25-28页 |
| ·评价标准 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第4章 基于 SAT 的 ATPG 方法与系统实现 | 第30-45页 |
| ·方法简介 | 第30页 |
| ·总体流程 | 第30-31页 |
| ·系统描述 | 第31-32页 |
| ·建立模型 | 第32-38页 |
| ·Verilog 简介 | 第32-33页 |
| ·构建连接电路 | 第33-34页 |
| ·语法分析 | 第34-35页 |
| ·模型抽取 | 第35-36页 |
| ·转化为逻辑表达式 | 第36-38页 |
| ·故障建模 | 第38-39页 |
| ·问题求解 | 第39-42页 |
| ·系统实现 | 第42-43页 |
| ·测试分析 | 第43-44页 |
| ·方法评价 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 其他应用 | 第45-52页 |
| ·集成电路的等价性验证 | 第45-46页 |
| ·基于 SAT 的方法 | 第46-49页 |
| ·模型抽取 | 第49-50页 |
| ·实验结果 | 第50-51页 |
| ·方法评价 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第6章 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·工作总结 | 第52-53页 |
| ·展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |