毫米波被动辐射成像模拟方法的研究
摘要 | 第4-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 毫米波被动成像模拟的研究背景与意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
1.2.1 微波辐射计系统的发展 | 第11-12页 |
1.2.2 辐射计目标探测技术的研究和发展 | 第12-13页 |
1.2.3 微波辐射成像模拟技术的研究和发展 | 第13页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第13-14页 |
1.4 本文主要贡献 | 第14-16页 |
第二章 亮度温度成像的原理 | 第16-26页 |
2.1 被动辐射成像原理框图 | 第16-17页 |
2.2 微波辐射的基本理论 | 第17-19页 |
2.2.1 辐射测量原理 | 第17-18页 |
2.2.2 发射率的计算 | 第18-19页 |
2.3 微波辐射模型的影响因素 | 第19-26页 |
2.3.1 天空辐射 | 第19页 |
2.3.2 太阳辐射 | 第19-20页 |
2.3.3 路径衰减 | 第20-22页 |
2.3.4 辐射亮度温度极化旋转 | 第22-24页 |
2.3.5 天线的亮温输出 | 第24-25页 |
2.3.6 积分器的影响 | 第25-26页 |
第三章 空间剖分亮温追踪法 | 第26-41页 |
3.1 亮温成像模拟的方法 | 第26-28页 |
3.1.1 辐射度法 | 第26页 |
3.1.2 亮温追踪法(BTTM) | 第26-28页 |
3.2 亮温追踪的快速算法 | 第28-39页 |
3.2.1 空间剖分射线追踪法 | 第29-31页 |
3.2.2 实例和成像结果以及分析 | 第31-39页 |
3.3 本章小结 | 第39-41页 |
第四章 粗糙面的亮温成像模拟 | 第41-64页 |
4.1 引言 | 第41-42页 |
4.1.1 粗糙面亮温成像模拟的背景和意义 | 第41页 |
4.1.2 国内外研究现状 | 第41-42页 |
4.2 多层亮温追踪法 | 第42-47页 |
4.2.1 多层亮温追踪法的原理 | 第42-43页 |
4.2.2 多层亮温追踪法追踪模型的建立 | 第43-45页 |
4.2.3 多层亮温追踪法反演模型的建立 | 第45-47页 |
4.3 粗糙面的判据,描述参量 | 第47-49页 |
4.3.1 瑞利判据 | 第47-48页 |
4.3.2 粗糙面的统计参量 | 第48-49页 |
4.4 随机粗糙面的基尔霍夫驻留相位近似法 | 第49-52页 |
4.5 成像结果以及分析 | 第52-63页 |
4.5.1 与草地的实测对比 | 第53-55页 |
4.5.2 飞机跑道的毫米波辐射成像模拟 | 第55-57页 |
4.5.3 对三维虚拟场景的成像模拟 | 第57-60页 |
4.5.4 同种介质不同粗糙度的成像模拟 | 第60-62页 |
4.5.5 不同湿度土壤的被动辐射特性 | 第62-63页 |
4.6 本章小结 | 第63-64页 |
第五章 多层介质粗糙面的毫米波成像模拟 | 第64-93页 |
5.1 引言 | 第64页 |
5.1.1 研究的背景和意义 | 第64页 |
5.1.2 国内外研究现状 | 第64页 |
5.2 多层介质亮温追踪模型 | 第64-66页 |
5.3 多层介质粗糙面亮温反演模型 | 第66-68页 |
5.4 粗糙面的透射 | 第68-83页 |
5.4.1 深粗糙面的透射和反射 | 第69-72页 |
5.4.2 数值例算及分析 | 第72-82页 |
5.4.3 微粗糙面的透射系数 | 第82-83页 |
5.5 实验结果及分析 | 第83-92页 |
5.5.1 真实场景二维模拟 | 第83-84页 |
5.5.2 被覆盖目标的PMMW成像模拟 | 第84-86页 |
5.5.3 三维虚拟场景的PMMW成像模拟 | 第86-92页 |
5.6 本章小结 | 第92-93页 |
第六章 多层亮温追踪的快速算法 | 第93-103页 |
6.1 多层亮温追踪快速算法的背景和意义 | 第93页 |
6.2 快速算法的原理 | 第93-99页 |
6.3 算例和分析 | 第99-102页 |
6.4 本章小结 | 第102-103页 |
第七章 总结与展望 | 第103-105页 |
7.1 总结 | 第103-104页 |
7.2 展望 | 第104-105页 |
参考文献 | 第105-112页 |
附录1 攻读博士学位期间撰写的论文 | 第112-113页 |
附录2 攻读博士学位期间参加的科研项目 | 第113-114页 |
致谢 | 第114页 |