| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 脉冲涡流检测技术及其传感器国内外发展现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 脉冲涡流检测技术及其传感器国外发展现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 脉冲涡流检测技术及其传感器国内发展现状 | 第10-11页 |
| 1.3 脉冲涡流检测技术的特点和传感器研究热点问题 | 第11-13页 |
| 1.3.1 脉冲涡流检测技术的特点 | 第11-12页 |
| 1.3.2 脉冲涡流检测技术及传感器研究的热点问题 | 第12-13页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第13-14页 |
| 1.5 本章小结 | 第14-15页 |
| 第2章 脉冲涡流检测技术基础 | 第15-22页 |
| 2.1 涡流检测原理 | 第15-18页 |
| 2.1.1 电磁场基本方程组 | 第15-16页 |
| 2.1.2 涡流效应及涡流检测 | 第16-17页 |
| 2.1.3 脉冲涡流检测基本原理 | 第17-18页 |
| 2.2 脉冲涡流渗透深度分析 | 第18-20页 |
| 2.2.1 趋肤效应与渗透深度 | 第18-19页 |
| 2.2.2 脉冲涡流检测趋肤深度 | 第19-20页 |
| 2.3 脉冲涡流响应信号分析 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 脉冲涡流检测单激励单接收传感器设计 | 第22-35页 |
| 3.1 脉冲涡流检测实验系统组成 | 第22-26页 |
| 3.1.1 脉冲涡流检测实验试块制作 | 第23-25页 |
| 3.1.2 数据采集软件系统 | 第25-26页 |
| 3.2 单探头设计 | 第26-30页 |
| 3.2.1 磁传感器选择 | 第26-28页 |
| 3.2.2 磁芯材料的选择 | 第28页 |
| 3.2.3 探头设计 | 第28-30页 |
| 3.3 探头性能测试 | 第30-34页 |
| 3.3.1 多层板裂纹检测 | 第30-32页 |
| 3.3.2 灵敏度对比 | 第32-33页 |
| 3.3.3 铆钉孔周围裂纹检测 | 第33-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 铆钉周围裂纹检测双激励传感器设计与优化 | 第35-46页 |
| 4.1 铆钉周围裂纹脉冲涡流检测 | 第35-36页 |
| 4.1.1 检测原理 | 第35-36页 |
| 4.1.2 实验试块制作 | 第36页 |
| 4.1.3 实验装置 | 第36页 |
| 4.2 探头设计 | 第36-38页 |
| 4.3 探头参数优化选择 | 第38-42页 |
| 4.3.1 激励线圈匝数选择 | 第38-39页 |
| 4.3.2 激励线圈间距优化选择 | 第39-40页 |
| 4.3.3 激励线圈与水平夹角 | 第40页 |
| 4.3.4 TMR接收位置对探头灵敏度的影响 | 第40-41页 |
| 4.3.5 磁芯材料对探头检测灵敏度的影响 | 第41-42页 |
| 4.4 探头性能测试 | 第42-45页 |
| 4.4.1 铆钉周围裂纹检测 | 第42-44页 |
| 4.4.2 灵敏度对比分析 | 第44-45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 脉冲涡流检测阵列探头设计 | 第46-63页 |
| 5.1 单通道探头覆盖实验设计 | 第46-49页 |
| 5.1.1 实验参数及思路 | 第46-47页 |
| 5.1.2 扫描方向 | 第47页 |
| 5.1.3 覆盖实验测试结果 | 第47-49页 |
| 5.2 阵列探头的设计 | 第49-52页 |
| 5.2.1 阵列探头TMR摆放 | 第49-51页 |
| 5.2.2 PCB电路制作 | 第51-52页 |
| 5.2.3 探头成型 | 第52页 |
| 5.3 脉冲涡流阵列成像 | 第52-54页 |
| 5.3.1 八通道实时采集系统 | 第53页 |
| 5.3.2 阵列探头成像检测 | 第53-54页 |
| 5.4 多层板裂纹及层间腐蚀检测 | 第54-62页 |
| 5.4.1 飞机多层板裂纹检测 | 第55-57页 |
| 5.4.2 铆接结构层间腐蚀检测 | 第57-59页 |
| 5.4.3 多层板扫描成像检测 | 第59-62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第6章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 6.1 研究成果总结 | 第63页 |
| 6.2 展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
