| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-25页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 聚酰亚胺薄膜分类及应用 | 第9-13页 |
| 1.2.1 透明聚酰亚胺薄膜 | 第9-11页 |
| 1.2.2 耐电晕聚酰亚胺薄膜 | 第11页 |
| 1.2.3 导电聚酰亚胺薄膜 | 第11-12页 |
| 1.2.4 高导热聚酰亚胺薄膜 | 第12-13页 |
| 1.3 透明PI膜在薄膜相机上的应用 | 第13-15页 |
| 1.4 聚酰亚胺薄膜光学改性 | 第15-17页 |
| 1.5 聚酰亚胺薄膜空间环境适应性 | 第17-24页 |
| 1.5.1 聚酰亚胺薄膜质子辐照效应 | 第18-20页 |
| 1.5.2 聚酰亚胺薄膜电子辐照效应 | 第20-22页 |
| 1.5.3 聚酰亚胺薄膜紫外辐照效应 | 第22-23页 |
| 1.5.4 聚酰亚胺薄膜原子氧侵蚀效应 | 第23-24页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第24-25页 |
| 第2章 试验材料、设备及研究方法 | 第25-33页 |
| 2.1 试验材料 | 第25页 |
| 2.2 辐照试验与性能测试 | 第25-27页 |
| 2.2.1 带电粒子辐照试验 | 第25-26页 |
| 2.2.2 拉伸试验 | 第26-27页 |
| 2.2.3 光学透过率测试 | 第27页 |
| 2.3 辐照试验的蒙特卡洛模拟计算 | 第27-29页 |
| 2.4 透明PI膜辐照前后微观形貌及组织结构观测 | 第29-33页 |
| 2.4.1 表面形貌及断口观察 | 第29-30页 |
| 2.4.2 傅里叶变换红外光谱分析 | 第30页 |
| 2.4.3 拉曼光谱分析 | 第30页 |
| 2.4.4 X射线光电子能谱分析 | 第30-31页 |
| 2.4.5 热分析 | 第31页 |
| 2.4.6 自由基分析 | 第31-32页 |
| 2.4.7 物相分析 | 第32-33页 |
| 第3章 透明PI膜带电粒子辐照效应 | 第33-46页 |
| 3.1 透明PI膜分子内所含基团及性能测试 | 第33-37页 |
| 3.1.1 透明PI膜分子内所含基团检测 | 第33-36页 |
| 3.1.2 透明PI膜与其他PI膜光学和力学性能差异 | 第36-37页 |
| 3.2 透明PI膜质子辐照性能变化规律 | 第37-40页 |
| 3.2.1 光学性能变化 | 第37-39页 |
| 3.2.2 力学性能变化 | 第39-40页 |
| 3.2.3 表面形貌变化 | 第40页 |
| 3.3 透明PI膜电子辐照性能变化规律 | 第40-44页 |
| 3.3.1 光学性能变化 | 第40-43页 |
| 3.3.2 力学性能变化 | 第43页 |
| 3.3.3 表面形貌变化 | 第43-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 透明PI膜带电粒子辐照损伤机理 | 第46-67页 |
| 4.1 透明PI膜辐照前后样品断口观察 | 第46-49页 |
| 4.1.1 质子辐照断口形貌 | 第46-48页 |
| 4.1.2 电子辐照断口形貌 | 第48-49页 |
| 4.2 辐照后透明PI膜Tg变化情况 | 第49-50页 |
| 4.3 辐照后透明PI膜化学基团变化情况 | 第50-62页 |
| 4.3.1 辐照后透明PI膜分子基团检测分析 | 第50-53页 |
| 4.3.2 辐照后透明PI膜典型元素检测分析 | 第53-61页 |
| 4.3.3 拉曼光谱分析 | 第61-62页 |
| 4.4 带电粒子辐照后PI膜内自由基情况 | 第62-65页 |
| 4.5 辐照前后物相分析 | 第65-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 致谢 | 第73页 |