TDI图像传感特征提取与低功耗研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 固态图像传感器概述 | 第10-12页 |
| 1.2 固态图像传感器的阵型分布 | 第12-13页 |
| 1.3 TDI国内外发展现状与意义 | 第13-14页 |
| 1.4 本论文结构与内容安排 | 第14-16页 |
| 第二章 CMOS-TDI图像传感概述 | 第16-28页 |
| 2.1 CMOS-TDI架构 | 第16-17页 |
| 2.2 基本像素单元结构 | 第17-21页 |
| 2.2.1 3T有源像素 | 第17-19页 |
| 2.2.2 CTIA型像素 | 第19-20页 |
| 2.2.3 PM型像素 | 第20-21页 |
| 2.3 相关双采样电路 | 第21-23页 |
| 2.3.1 单耦合电容结构 | 第22-23页 |
| 2.3.2 双采样-保持电容结构 | 第23页 |
| 2.4 模数转换器电路 | 第23-26页 |
| 2.4.1 单斜式模数转换器 | 第24-25页 |
| 2.4.2 逐渐逼近型模数转换器 | 第25-26页 |
| 2.5 累加器电路单元 | 第26-27页 |
| 2.6 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 低功耗电容网络转换技术 | 第28-41页 |
| 3.1 模数转换器的架构选取 | 第28页 |
| 3.2 电容网络转换技术概述 | 第28-29页 |
| 3.3 pDAC技术 | 第29-32页 |
| 3.3.1 pDAC技术基本思路 | 第29页 |
| 3.3.2 pDAC技术数学原理 | 第29-32页 |
| 3.4 预测读出技术 | 第32-34页 |
| 3.4.1 预测读出技术概述 | 第32页 |
| 3.4.2 预测读出技术方案 | 第32-34页 |
| 3.5 用于CMOS-TDI的电容网络转换技术 | 第34-40页 |
| 3.5.1 算法改进原理 | 第34-36页 |
| 3.5.2 算法分析 | 第36-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 低功耗特征提取技术研究 | 第41-52页 |
| 4.1 边缘检测原理概述 | 第41页 |
| 4.2 边缘检测算子分析 | 第41-47页 |
| 4.2.1 Roberts边缘检测算子 | 第42-43页 |
| 4.2.2 Sobel边缘检测算子 | 第43-44页 |
| 4.2.3 Log边缘检测算子 | 第44-45页 |
| 4.2.4 Canny边缘检测算子 | 第45-47页 |
| 4.3 用于CMOS-TDI的特征提取算法设计 | 第47-49页 |
| 4.4 特征提取算法分析 | 第49-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 低功耗特征提取实施技术前提 | 第52-64页 |
| 5.1 FPN对特征提取的影响 | 第52-54页 |
| 5.2 FPN的系统来源 | 第54-55页 |
| 5.3 像素单元设计 | 第55-56页 |
| 5.4 模拟累加器的设计 | 第56-63页 |
| 5.4.1 模拟累加器原理 | 第56-58页 |
| 5.4.2 模拟累加器的失调校正 | 第58-59页 |
| 5.4.3 模拟累加器的仿真验证 | 第59-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 6.1 工作总结 | 第64-65页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第71页 |
