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多参数程控的冲击波存储测试系统研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 课题背景及研究意义第10-12页
    1.2 国内外研究现状第12-14页
        1.2.1 爆炸冲击波测试方法研究现状第12-13页
        1.2.2 冲击波存储测试法研究现状第13-14页
    1.3 本文的主要研究内容第14-16页
第二章 被测对象分析与设计指标第16-25页
    2.1 爆炸空气冲击波特性第16-19页
    2.2 测试系统设计要求与分析第19-20页
        2.2.1 指标要求第19页
        2.2.2 设计要求分析第19-20页
    2.3 总体方案设计第20-21页
    2.4 系统工作流程第21-23页
    2.5 系统设计原则第23-24页
    2.6 本章小结第24-25页
第三章 传感器及信号调理电路第25-35页
    3.1 传感器选型第25-26页
    3.2 信号调理电路第26-32页
        3.2.1 传感器直流偏置的程控消除电路第26-28页
        3.2.2 增益与基线程控电路第28-29页
        3.2.3 程控滤波电路第29-32页
    3.3 电源电路第32-34页
        3.3.1 升压电路第32-33页
        3.3.2 降压电路第33-34页
        3.3.3 升压与负压电路第34页
    3.4 本章小结第34-35页
第四章 采集存储电路第35-52页
    4.1 A/D转换电路设计第35-37页
        4.1.1 A/D转换器的选择第35-36页
        4.1.2 A/D转换器的控制第36-37页
    4.2 Flash存储电路设计第37-42页
        4.2.1 存储器的选择第37-38页
        4.2.2 NAND Flash原理第38-40页
        4.2.3 NAND Flash的控制第40-42页
    4.3 接口电路设计第42-43页
    4.4 控制器FPGA的设计第43-49页
        4.4.1 FPGA的选择第43-45页
        4.4.2 多参数程控设计第45-47页
        4.4.3 FIFO的配置第47-48页
        4.4.4 时钟管理第48-49页
    4.5 上位机软件设计第49-51页
    4.6 本章小结第51-52页
第五章 可靠性保障技术第52-62页
    5.1 负延时程控技术第52-53页
    5.2 灌封技术第53-54页
    5.3 Flash可靠性管理技术第54-61页
        5.3.1 坏块管理第55-56页
        5.3.2 ECC校验第56-61页
    5.4 本章小结第61-62页
第六章 实测试验及结果分析第62-67页
    6.1 试验现场的测试方案第62-63页
    6.2 测试数据及分析第63-66页
    6.3 本章小结第66-67页
第七章 总结与展望第67-68页
参考文献第68-72页
攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果第72-73页
致谢第73页

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