多参数程控的冲击波存储测试系统研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 课题背景及研究意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
1.2.1 爆炸冲击波测试方法研究现状 | 第12-13页 |
1.2.2 冲击波存储测试法研究现状 | 第13-14页 |
1.3 本文的主要研究内容 | 第14-16页 |
第二章 被测对象分析与设计指标 | 第16-25页 |
2.1 爆炸空气冲击波特性 | 第16-19页 |
2.2 测试系统设计要求与分析 | 第19-20页 |
2.2.1 指标要求 | 第19页 |
2.2.2 设计要求分析 | 第19-20页 |
2.3 总体方案设计 | 第20-21页 |
2.4 系统工作流程 | 第21-23页 |
2.5 系统设计原则 | 第23-24页 |
2.6 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 传感器及信号调理电路 | 第25-35页 |
3.1 传感器选型 | 第25-26页 |
3.2 信号调理电路 | 第26-32页 |
3.2.1 传感器直流偏置的程控消除电路 | 第26-28页 |
3.2.2 增益与基线程控电路 | 第28-29页 |
3.2.3 程控滤波电路 | 第29-32页 |
3.3 电源电路 | 第32-34页 |
3.3.1 升压电路 | 第32-33页 |
3.3.2 降压电路 | 第33-34页 |
3.3.3 升压与负压电路 | 第34页 |
3.4 本章小结 | 第34-35页 |
第四章 采集存储电路 | 第35-52页 |
4.1 A/D转换电路设计 | 第35-37页 |
4.1.1 A/D转换器的选择 | 第35-36页 |
4.1.2 A/D转换器的控制 | 第36-37页 |
4.2 Flash存储电路设计 | 第37-42页 |
4.2.1 存储器的选择 | 第37-38页 |
4.2.2 NAND Flash原理 | 第38-40页 |
4.2.3 NAND Flash的控制 | 第40-42页 |
4.3 接口电路设计 | 第42-43页 |
4.4 控制器FPGA的设计 | 第43-49页 |
4.4.1 FPGA的选择 | 第43-45页 |
4.4.2 多参数程控设计 | 第45-47页 |
4.4.3 FIFO的配置 | 第47-48页 |
4.4.4 时钟管理 | 第48-49页 |
4.5 上位机软件设计 | 第49-51页 |
4.6 本章小结 | 第51-52页 |
第五章 可靠性保障技术 | 第52-62页 |
5.1 负延时程控技术 | 第52-53页 |
5.2 灌封技术 | 第53-54页 |
5.3 Flash可靠性管理技术 | 第54-61页 |
5.3.1 坏块管理 | 第55-56页 |
5.3.2 ECC校验 | 第56-61页 |
5.4 本章小结 | 第61-62页 |
第六章 实测试验及结果分析 | 第62-67页 |
6.1 试验现场的测试方案 | 第62-63页 |
6.2 测试数据及分析 | 第63-66页 |
6.3 本章小结 | 第66-67页 |
第七章 总结与展望 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-72页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第72-73页 |
致谢 | 第73页 |