小型化时栅电气系统设计与参数优化
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-19页 |
1.1 本文的研究背景、来源和意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-16页 |
1.2.1 光栅角位移传感器 | 第10-13页 |
1.2.2 其它角位移传感器 | 第13-15页 |
1.2.3 时栅角位移传感器 | 第15-16页 |
1.3 本文主要研究内容 | 第16-19页 |
2 时栅测量和定位原理 | 第19-33页 |
2.1 时空转换理论 | 第19-21页 |
2.2 时栅测量原理 | 第21-22页 |
2.3 电场式时栅测量原理 | 第22-25页 |
2.4 时栅角位移测量原理 | 第25-30页 |
2.4.1 定子单排结构测量原理 | 第25-28页 |
2.4.2 转子差动结构原理 | 第28页 |
2.4.3 绝对定位功能 | 第28-30页 |
2.5 本章小结 | 第30-33页 |
3 电气系统设计和制作 | 第33-53页 |
3.1 时栅测量系统 | 第33-36页 |
3.2 激励信号发生系统 | 第36-42页 |
3.2.1 任意波形发生装置 | 第36-38页 |
3.2.2 直接数字频率合成(DDS) | 第38-40页 |
3.2.3 D/A芯片选择 | 第40-42页 |
3.3 行波信号处理系统 | 第42-48页 |
3.3.1 放大电路 | 第43-46页 |
3.3.2 整形电路 | 第46-48页 |
3.4 其它系统模块设计 | 第48-50页 |
3.4.1 电源模块 | 第48-49页 |
3.4.2 接口模块 | 第49-50页 |
3.5 电气系统PCB制作 | 第50页 |
3.6 本章小结 | 第50-53页 |
4 实验研究和参数优化 | 第53-75页 |
4.1 实验平台搭建 | 第53-54页 |
4.2 样机制作 | 第54-58页 |
4.3 激励系统性能测试 | 第58-59页 |
4.4 电气系统综合实验 | 第59-64页 |
4.4.1 单电源电荷放大综合实验 | 第60-61页 |
4.4.2 双电源电荷放大综合实验 | 第61-62页 |
4.4.3 差动放大综合实验 | 第62-63页 |
4.4.4 仪用放大综合实验 | 第63-64页 |
4.5 一体集成时栅实验 | 第64-67页 |
4.6 电气参数优化 | 第67-69页 |
4.6.1 信号完整性(SI) | 第67-68页 |
4.6.2 电源完整性(PI) | 第68页 |
4.6.3 电磁兼容性(EMC) | 第68-69页 |
4.6.4 实验验证 | 第69页 |
4.7 结构参数优化 | 第69-73页 |
4.7.1 两圈结构优化 | 第70页 |
4.7.2 实验验证 | 第70-73页 |
4.8 本章小结 | 第73-75页 |
5 总结与展望 | 第75-77页 |
5.1 总结 | 第75-76页 |
5.2 展望 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-79页 |
参考文献 | 第79-83页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文及取得的研究成果 | 第83页 |