低相位噪声的数控晶体振荡器设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 概述 | 第6-10页 |
| ·研究目的 | 第6-7页 |
| ·研究内容及贡献 | 第7-8页 |
| ·论文组织结构 | 第8页 |
| 参考文献 | 第8-10页 |
| 第二章 晶体振荡器概述 | 第10-22页 |
| ·晶体特性 | 第10-13页 |
| ·压电特性 | 第10-11页 |
| ·电学等效模型 | 第11-13页 |
| ·晶体振荡器分析方法和结构 | 第13-17页 |
| ·晶体振荡器分析方法 | 第13-15页 |
| ·CMOS晶体振荡器结构 | 第15-17页 |
| ·晶体振荡器指标 | 第17-20页 |
| ·功耗 | 第17-19页 |
| ·频率稳定度 | 第19-20页 |
| ·其他 | 第20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 参考文献 | 第21-22页 |
| 第三章 Santos结构晶体振荡器分析 | 第22-38页 |
| ·核心电路 | 第22-23页 |
| ·线性分析 | 第23-29页 |
| ·起振时间及时间常数 | 第23-24页 |
| ·临界跨导和牵引系数 | 第24-28页 |
| ·小信号电压幅度 | 第28-29页 |
| ·非线性分析 | 第29-34页 |
| ·大信号模型 | 第29-32页 |
| ·大信号电压幅度 | 第32-34页 |
| ·相位噪声分析 | 第34-36页 |
| ·设计流程 | 第36页 |
| 参考文献 | 第36-38页 |
| 第四章 Santos结构晶体振荡器电路设计 | 第38-60页 |
| ·设计考虑 | 第38-40页 |
| ·自动幅度控制电路设计 | 第40-48页 |
| ·晶振核心电路设计 | 第40-42页 |
| ·电流源 | 第42-44页 |
| ·峰值检测和比较器电路 | 第44-45页 |
| ·自动幅度控制 | 第45-48页 |
| ·自动频率控制 | 第48-56页 |
| ·数控开关电容阵列 | 第49-51页 |
| ·电容阵列的单元设计 | 第51-55页 |
| ·一阶delta-sigma调制器 | 第55-56页 |
| ·晶振输出缓冲级设计 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 第五章 芯片实现及测试 | 第60-68页 |
| ·芯片实现 | 第60-61页 |
| ·芯片测试结果 | 第61-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
