摘要 | 第4-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第13-40页 |
1.1 透射电子显微镜的发展历史与现状 | 第13-18页 |
1.2 电子光学成像原理 | 第18-26页 |
1.2.1 扫描透射电子显微镜成像原理 | 第19-21页 |
1.2.2 透射电子显微镜高分辨成像原理 | 第21-22页 |
1.2.3 透射电子显微镜成像模拟方法 | 第22-26页 |
1.3 “无透镜”相干衍射成像方法 | 第26-32页 |
1.3.1 相位问题的传统解决方法 | 第28-30页 |
1.3.2 传统相干衍射成像方法 | 第30-32页 |
参考文献 | 第32-40页 |
第二章 相干衍射叠层成像 | 第40-60页 |
2.1 叠层成像的光路设置 | 第40-44页 |
2.2 叠层成像在激光、X射线以及电子显微领域中的应用 | 第44-46页 |
2.3 叠层成像相位恢复原理 | 第46-51页 |
参考文献 | 第51-60页 |
第三章 轻元素电子相干衍射叠层成像 | 第60-93页 |
3.1 研究背景 | 第60-62页 |
3.2 实验方法 | 第62-71页 |
3.2.1 样品的选择与制备 | 第62-63页 |
3.2.2 实验条件的选择要求 | 第63-68页 |
3.2.3 叠层成像的采样条件 | 第68-71页 |
3.3 实验数据处理与参数校正 | 第71-77页 |
3.3.1 数据旋转 | 第72-73页 |
3.3.2 枢轴点对中 | 第73-74页 |
3.3.3 扫描位置校正 | 第74-77页 |
3.4 相位重构结果与讨论 | 第77-80页 |
3.5 多层法模拟 | 第80-86页 |
3.5.1 样品厚度对重构结果的影响 | 第80-81页 |
3.5.2 相位解缠绕 | 第81-82页 |
3.5.3 透射电子显微镜部分相干性的影响 | 第82-83页 |
3.5.4 “冷冻声子”模型对模拟结果的影响 | 第83-86页 |
3.6 本章小结 | 第86页 |
参考文献 | 第86-93页 |
第四章 三维电子相干衍射叠层成像 | 第93-132页 |
4.1 研究目的与背景 | 第93-100页 |
4.1.1 三维成像原理 | 第93-97页 |
4.1.2 三维叠层成像算法 | 第97-100页 |
4.2 模拟实验与算法验证 | 第100-102页 |
4.3 实验设置与数据采集 | 第102-108页 |
4.3.1 样品的选择与制备 | 第102-103页 |
4.3.2 电压的选择 | 第103-104页 |
4.3.3 数据采集 | 第104-108页 |
4.4 实验数据处理与参数设置 | 第108-112页 |
4.4.1 扫描位置误差校正 | 第108-109页 |
4.4.2 数据冗余度初探 | 第109-110页 |
4.4.3 探针初始设置 | 第110-112页 |
4.5 三维重构的结果与讨论 | 第112-120页 |
4.5.1 实验径向分辨率与理论值的比较 | 第115-118页 |
4.5.2 实验轴向分辨率与理论值的比较 | 第118-120页 |
4.6 三维叠层成像动力学初探 | 第120-125页 |
4.7 本章小结 | 第125-126页 |
参考文献 | 第126-132页 |
第五章 总结与展望 | 第132-137页 |
参考文献 | 第135-137页 |
博士期间发表文章 | 第137-139页 |
致谢 | 第139-141页 |
附录A 电子束在真空中的传播原理 | 第141-144页 |