| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 概述 | 第9-18页 |
| 1.1 高机械寿命连接器的研究目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 高寿命电子连接器的研究现况 | 第10-11页 |
| 1.2.1 国内外研究现况 | 第10页 |
| 1.2.2 富士康研究现况 | 第10-11页 |
| 1.3 高机械寿命连接器的研究方向和指标 | 第11-16页 |
| 1.3.1 电子连接器高次数耐插拔的研究对象和方向 | 第11-14页 |
| 1.3.2 机械高次数耐插拔连接器的功能和指标 | 第14-16页 |
| 1.4 课题研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 电子连接器的插拔机理分析 | 第18-27页 |
| 2.1 接触组件 | 第19-20页 |
| 2.2 结合力学 | 第20-25页 |
| 2.2.1 插入过程 | 第21-23页 |
| 2.2.2 材料性能和端子正常作用力 | 第23-25页 |
| 2.3 耐久性 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章USB 3.0 产品设计总体方案 | 第27-35页 |
| 3.1 影响机械寿命的约束 | 第27-30页 |
| 3.1.1 影响机械寿命的失效模式分析 | 第27-29页 |
| 3.1.2 机械寿命的约束因子 | 第29-30页 |
| 3.2 产品概况以及主要设计指标 | 第30-33页 |
| 3.2.1 产品整体结构设计概要分析 | 第31-32页 |
| 3.2.2 接触金属组件结构设计概要 | 第32页 |
| 3.2.3 重要设计指标 | 第32-33页 |
| 3.3 实验方案 | 第33-34页 |
| 3.3.1 计算机模拟实验 | 第33页 |
| 3.3.2 实际样品测试 | 第33-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 USB 3.0 产品整体结构设计 | 第35-44页 |
| 4.1 整体结构设计概要 | 第35-36页 |
| 4.2 塑料材料的选择 | 第36-38页 |
| 4.3 塑料本体与金属件的组合结构 | 第38-40页 |
| 4.3.1 Housing 与外 Shell 的扣合 | 第39-40页 |
| 4.3.2 Housing 舌片对金属端子弹片的支撑 | 第40页 |
| 4.4 外Shell 的铆合以及与 PCB 固定的结构设计 | 第40-43页 |
| 4.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 USB 3.0 接触金属组件结构设计 | 第44-58页 |
| 5.1 接触弹片材料的选择 | 第44-46页 |
| 5.2 接触弹片的结构设计 | 第46-57页 |
| 5.2.1 正向力的数学模型以及公差影响 | 第47-48页 |
| 5.2.2 正向力的静态插入力，拔出力的计算 | 第48-51页 |
| 5.2.3 3D 模型建立与有限元分析 | 第51-57页 |
| 5.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 USB 3.0 接触金属组件的镀层选择 | 第58-64页 |
| 6.1 镀层对耐插拔性能的影响 | 第59-60页 |
| 6.2 接触金属组件的镀层选择 | 第60-63页 |
| 6.2.1 几种常见贵金属特性 | 第60-61页 |
| 6.2.2 Shell 镀层的选择 | 第61-63页 |
| 6.2.3 接触端子镀层的选择 | 第63页 |
| 6.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 第七章 USB 3.0 样品实验测试及结果分析 | 第64-69页 |
| 7.1 测试分类以及一般要求 | 第64-65页 |
| 7.2 测试项目以及业界要求 | 第65-66页 |
| 7.3 样品测试以及测试结果 | 第66-68页 |
| 7.3.1 测试步骤 | 第66-67页 |
| 7.3.2 测试结果 | 第67-68页 |
| 7.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 结束语 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第74-76页 |
