连铸结晶器铜板表面质量检测系统设计与开发
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究对象、背景及意义 | 第9-13页 |
| 1.1.1 课题研究对象 | 第9-11页 |
| 1.1.2 课题研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 课题研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.1 国内外对结晶器的研究 | 第13页 |
| 1.2.2 结晶器铜板表面质量常用检测方法 | 第13-14页 |
| 1.3 课题研究难点、研究内容及组织结构 | 第14-16页 |
| 1.3.1 课题研究难点 | 第14-15页 |
| 1.3.2 文章研究内容及组织结构 | 第15-16页 |
| 1.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 基于机器视觉的铜板表面质量检测系统构建 | 第17-28页 |
| 2.1 检测系统硬件分析 | 第17-21页 |
| 2.1.1 硬件系统整体构架 | 第17-18页 |
| 2.1.2 光路系统 | 第18-20页 |
| 2.1.3 驱动机构及安装平台 | 第20-21页 |
| 2.2 检测系统软件分析 | 第21-26页 |
| 2.2.1 图像增强 | 第21-24页 |
| 2.2.2 图像边缘检测 | 第24-26页 |
| 2.2.3 二值图像缺陷轮廓提取 | 第26页 |
| 2.3 结晶器铜板表面质量检测系统结构 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 小物距条件下大幅面物体成像研究 | 第28-37页 |
| 3.1 小物距大幅面物体表面成像 | 第28-29页 |
| 3.1.1 增加光学元件法 | 第28-29页 |
| 3.1.2 改变光路法 | 第29页 |
| 3.2 光学参数介绍及计算 | 第29-34页 |
| 3.2.1 参数介绍 | 第30-31页 |
| 3.2.2 景深计算 | 第31-34页 |
| 3.3 成像模型建立 | 第34-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 铜板表面质量检测系统硬件设计 | 第37-49页 |
| 4.1 检测系统总体设计 | 第37-38页 |
| 4.2 光学元件计算及选型 | 第38-43页 |
| 4.2.1 光源系统 | 第38-40页 |
| 4.2.2 CCD 相机选型及计算 | 第40-41页 |
| 4.2.3 镜头选型 | 第41页 |
| 4.2.4 反光镜设计 | 第41-43页 |
| 4.3 驱动系统设计 | 第43-48页 |
| 4.3.1 电机选择 | 第43-45页 |
| 4.3.2 控制器选择 | 第45-46页 |
| 4.3.3 图像采集 | 第46-47页 |
| 4.3.4 驱动系统具体结构 | 第47-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 图像处理系统设计及应用 | 第49-58页 |
| 5.1 图像处理系统设计 | 第49-50页 |
| 5.1.1 图像处理系统设计工具 | 第49页 |
| 5.1.2 图像处理系统结构及方法 | 第49-50页 |
| 5.2 人机交互式图像处理系统 | 第50-52页 |
| 5.2.1 人机交互式图像处理系统思想 | 第50-51页 |
| 5.2.2 基于人机交互的缺陷分类 | 第51-52页 |
| 5.3 图像处理系统界面及应用 | 第52-56页 |
| 5.3.1 图像处理系统界面 | 第52-53页 |
| 5.3.2 图像处理系统应用 | 第53-56页 |
| 5.4 本章小结 | 第56-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-59页 |
| 6.1 全文总结 | 第58页 |
| 6.2 未来展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 在攻读硕士研究生期间的研究成果及发表的论文 | 第63-64页 |
| 详细摘要 | 第64-68页 |
