| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 课题研究的内容及意义 | 第11-12页 |
| 1.4 本论文的主要工作 | 第12-13页 |
| 2 Gamma 与 OD 的相关理论 | 第13-26页 |
| 2.1 液晶显示驱动原理 | 第13-15页 |
| 2.2 Gamma 校正原理 | 第15-20页 |
| 2.2.1 Gamma 校正技术 ACC | 第15-18页 |
| 2.2.2 动态 Gamma 技术简介 | 第18-20页 |
| 2.3 过驱动（Overdrive）技术原理 | 第20-26页 |
| 2.3.1 液晶响应时间的理论研究 | 第20-23页 |
| 2.3.2 OD 原理 | 第23-26页 |
| 3 Gamma 自动化调试系统的设计 | 第26-40页 |
| 3.1 Gamma 电压对 Gamma 曲线的影响 | 第26-27页 |
| 3.2 Gamma 参考电压自动设定程序 | 第27-30页 |
| 3.3 TFT LCM Gamma 值自动测量系统 | 第30-35页 |
| 3.3.1 TFT LCM gamma 值自动测量系统的组成 | 第30-32页 |
| 3.3.2 利用自动测量结果对 Gamma 曲线的调整 | 第32-35页 |
| 3.4 TCON 内置 RGB Gamma LUT 的调整 | 第35-40页 |
| 3.4.1 恒定色温液晶屏调试方法 | 第36-40页 |
| 4 OD 自动化调试系统的设计 | 第40-64页 |
| 4.1 OD 技术的研究 | 第41-42页 |
| 4.2 OD LUT 的插值和压缩方法 | 第42-51页 |
| 4.2.1 OD LUT 的作用及其获取方法 | 第43-44页 |
| 4.2.2 OD LUT 常见插值算法 | 第44-51页 |
| 4.3 3D 下 OD 的调试优化 | 第51-59页 |
| 4.3.1 3D 下过驱动查找表数值的自动测定方案 | 第51-53页 |
| 4.3.2 3D 下 OD LUT 调试步骤及方法 | 第53-59页 |
| 4.4 OD 调试标准 | 第59-64页 |
| 5 本文工作总结与未来工作展望 | 第64-66页 |
| 5.1 本文工作总结 | 第64-65页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 个人简历 | 第69-70页 |
