A公司芯片研发项目质量改进研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 研究的目的和意义 | 第10页 |
| 1.3 研究内容和技术路线 | 第10-13页 |
| 第2章 文献综述 | 第13-20页 |
| 2.1 质量管理体系理论 | 第13-14页 |
| 2.2 质量管理方法理论 | 第14-16页 |
| 2.3 质量管理应用研究 | 第16-20页 |
| 第3章 A公司芯片研发质量管理概况及存在的问题 | 第20-36页 |
| 3.1 A公司芯片研发现状 | 第21-23页 |
| 3.1.1 A公司芯片研发流程 | 第21-22页 |
| 3.1.2 A公司芯片研发质量管理介绍 | 第22-23页 |
| 3.2 A公司芯片质量问题提出 | 第23-29页 |
| 3.3 A公司芯片研发质量管理问题分析 | 第29-34页 |
| 3.4 A公司芯片研发质量管理问题总结 | 第34-36页 |
| 第4章 A公司芯片研发质量管理改进措施 | 第36-63页 |
| 4.1 芯片需求定义阶段质量管理改进 | 第36-44页 |
| 4.1.1 当前芯片需求定义流程 | 第36页 |
| 4.1.2 明确需求定义阶段质量目标 | 第36-39页 |
| 4.1.3 完善需求定义阶段质量审核 | 第39-41页 |
| 4.1.4 加强需求定义阶段质量控制 | 第41-43页 |
| 4.1.5 加强需求定义阶段质量保证 | 第43-44页 |
| 4.2 芯片设计阶段质量管理改进 | 第44-56页 |
| 4.2.1 当前芯片研发设计流程 | 第44页 |
| 4.2.2 明确设计阶段的质量目标 | 第44-46页 |
| 4.2.3 完善设计阶段质量审核机制 | 第46-53页 |
| 4.2.4 加强设计阶段的质量控制 | 第53-55页 |
| 4.2.5 加强设计阶段的质量保证 | 第55-56页 |
| 4.3 芯片测试阶段质量管理改进 | 第56-61页 |
| 4.3.1 当前测试阶段流程 | 第56-57页 |
| 4.3.2 明确测试阶段质量目标 | 第57-58页 |
| 4.3.3 完善测试阶段质量审核机制 | 第58-60页 |
| 4.3.4 加强测试阶段质量控制 | 第60-61页 |
| 4.3.5 加强测试阶段质量保证 | 第61页 |
| 4.4 芯片研发质量管理改进总结 | 第61-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
