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基于PXI总线的导弹测试系统研制

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第10-18页
    1.1 课题的来源和研究的目的及意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状及分析第11-17页
        1.2.1 国内测试系统研究现状第11-13页
        1.2.2 国外测试系统研究现状第13-14页
        1.2.3 PXI总线技术现状分析第14-17页
    1.3 本文的研究内容及结构第17-18页
第2章 系统总体设计方案第18-28页
    2.1 需求分析第18-21页
        2.1.1 测试设备主要功能第18页
        2.1.2 设计思路第18-19页
        2.1.3 关键技术指标第19-21页
    2.2 系统硬件设计方案第21-25页
        2.2.1 开关模块第22-23页
        2.2.2 8通道并行隔离A/D模块第23-24页
        2.2.3 RS-422与RS-485通讯模块第24-25页
    2.3 软件设计方案第25-27页
        2.3.1 软件开发平台第26-27页
        2.3.2 系统的软件组成第27页
    2.4 本章小结第27-28页
第3章 系统关键硬件模块设计第28-40页
    3.1 16×2矩阵开关模块设计第28-31页
        3.1.1 工作原理第28页
        3.1.2 硬件电路设计第28-29页
        3.1.3 基于FPGA的固件设计第29-31页
    3.2 8通道并行隔离A/D模块设计第31-39页
        3.2.1 工作原理及结构第31-33页
        3.2.2 硬件电路设计第33-36页
        3.2.3 基于FPGA的固件设计第36-39页
    3.3 本章小结第39-40页
第4章 系统的软件设计第40-46页
    4.1 软件设计关键技术介绍第40-41页
    4.2 基于LabWindows/CVI驱动程序设计第41-42页
    4.3 测试软面板设计第42-45页
        4.3.1 A/D模块测试软面板设计第42-43页
        4.3.2 开关模块测试软面板设计第43-44页
        4.3.3 通讯模块软面板设计第44-45页
    4.4 本章小结第45-46页
第5章 系统调试第46-60页
    5.1 调试平台及调试内容第46-47页
        5.1.1 调试平台第46页
        5.1.2 调试内容及步骤第46-47页
    5.2 PXI总线接口调试第47-48页
    5.3 继电器开关模块调试第48-50页
        5.3.1 调试步骤第48-49页
        5.3.2 调试结果第49-50页
    5.4 A/D模块调试第50-57页
        5.4.1 调试步骤第50-51页
        5.4.2 采集误差校正第51-56页
        5.4.3 调试结果第56-57页
    5.5 通讯模块调试第57-59页
        5.5.1 调试步骤第57页
        5.5.2 调试结果第57-59页
    5.6 本章小结第59-60页
结论第60-61页
参考文献第61-65页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果第65-66页
致谢第66-67页

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