摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 课题的来源和研究的目的及意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状及分析 | 第11-17页 |
1.2.1 国内测试系统研究现状 | 第11-13页 |
1.2.2 国外测试系统研究现状 | 第13-14页 |
1.2.3 PXI总线技术现状分析 | 第14-17页 |
1.3 本文的研究内容及结构 | 第17-18页 |
第2章 系统总体设计方案 | 第18-28页 |
2.1 需求分析 | 第18-21页 |
2.1.1 测试设备主要功能 | 第18页 |
2.1.2 设计思路 | 第18-19页 |
2.1.3 关键技术指标 | 第19-21页 |
2.2 系统硬件设计方案 | 第21-25页 |
2.2.1 开关模块 | 第22-23页 |
2.2.2 8通道并行隔离A/D模块 | 第23-24页 |
2.2.3 RS-422与RS-485通讯模块 | 第24-25页 |
2.3 软件设计方案 | 第25-27页 |
2.3.1 软件开发平台 | 第26-27页 |
2.3.2 系统的软件组成 | 第27页 |
2.4 本章小结 | 第27-28页 |
第3章 系统关键硬件模块设计 | 第28-40页 |
3.1 16×2矩阵开关模块设计 | 第28-31页 |
3.1.1 工作原理 | 第28页 |
3.1.2 硬件电路设计 | 第28-29页 |
3.1.3 基于FPGA的固件设计 | 第29-31页 |
3.2 8通道并行隔离A/D模块设计 | 第31-39页 |
3.2.1 工作原理及结构 | 第31-33页 |
3.2.2 硬件电路设计 | 第33-36页 |
3.2.3 基于FPGA的固件设计 | 第36-39页 |
3.3 本章小结 | 第39-40页 |
第4章 系统的软件设计 | 第40-46页 |
4.1 软件设计关键技术介绍 | 第40-41页 |
4.2 基于LabWindows/CVI驱动程序设计 | 第41-42页 |
4.3 测试软面板设计 | 第42-45页 |
4.3.1 A/D模块测试软面板设计 | 第42-43页 |
4.3.2 开关模块测试软面板设计 | 第43-44页 |
4.3.3 通讯模块软面板设计 | 第44-45页 |
4.4 本章小结 | 第45-46页 |
第5章 系统调试 | 第46-60页 |
5.1 调试平台及调试内容 | 第46-47页 |
5.1.1 调试平台 | 第46页 |
5.1.2 调试内容及步骤 | 第46-47页 |
5.2 PXI总线接口调试 | 第47-48页 |
5.3 继电器开关模块调试 | 第48-50页 |
5.3.1 调试步骤 | 第48-49页 |
5.3.2 调试结果 | 第49-50页 |
5.4 A/D模块调试 | 第50-57页 |
5.4.1 调试步骤 | 第50-51页 |
5.4.2 采集误差校正 | 第51-56页 |
5.4.3 调试结果 | 第56-57页 |
5.5 通讯模块调试 | 第57-59页 |
5.5.1 调试步骤 | 第57页 |
5.5.2 调试结果 | 第57-59页 |
5.6 本章小结 | 第59-60页 |
结论 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-65页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第65-66页 |
致谢 | 第66-67页 |