| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 课题国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 核辐射探测器 | 第10-12页 |
| 1.2.2 电子学电路 | 第12页 |
| 1.3 CdZnTe阵列探测技术 | 第12-13页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第13-14页 |
| 第二章 甄别级CdZnTe探测器信号拾取 | 第14-24页 |
| 2.1 射线的分类 | 第14-15页 |
| 2.1.1 X射线与 γ 射线产生 | 第14页 |
| 2.1.2 X与γ射线的的性质 | 第14-15页 |
| 2.1.3 X、γ射线与物质的相互作用 | 第15页 |
| 2.2 CdZnTe探测器的选取 | 第15-22页 |
| 2.2.1 CdZnTe探测器国内外发展概况 | 第17页 |
| 2.2.2 CdZnTe探测器的特性 | 第17页 |
| 2.2.3 不同电极结构CdZnTe探测器的能谱响应 | 第17-20页 |
| 2.2.4 CdZnTe探测器的等级分类 | 第20-22页 |
| 2.3 CdZnTe探测器的电荷陷获效应与电子学修正技术 | 第22-23页 |
| 2.3.1 CdZnTe探测器的电荷陷获效应 | 第22页 |
| 2.3.2 电子学修正技术 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 核电子学电路的设计 | 第24-42页 |
| 3.1 电荷灵敏前置放大器的分类 | 第24-28页 |
| 3.1.1 电荷灵敏前置放大器的工作原理 | 第24-25页 |
| 3.1.2 电荷灵敏前置放大器电路 | 第25-28页 |
| 3.2 电荷灵敏前置放大器的噪声分析 | 第28-31页 |
| 3.2.1 元器件的固有噪声 | 第28-29页 |
| 3.2.2 电荷灵敏前置放大器噪声计算 | 第29-31页 |
| 3.3 电荷灵敏前置放大器设计 | 第31-33页 |
| 3.4 核电子学电路滤波成形电路的设计 | 第33-38页 |
| 3.4.1 CR微分电路及其极-零相消技术 | 第33-35页 |
| 3.4.2 CR-（RC）m滤波成形电路 | 第35-36页 |
| 3.4.3 CR-（RC）m的信噪比 | 第36-37页 |
| 3.4.4 采用有源滤波器设计成形电路 | 第37-38页 |
| 3.5 核电子学线路输出端基线恢复电路的设计 | 第38-41页 |
| 3.5.1 基线恢复的原理 | 第38-39页 |
| 3.5.2 基线恢复器的选取 | 第39-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 基于FPGA的程控阈值甄别及数据采集系统 | 第42-46页 |
| 4.1 程控阈值甄别 | 第43-44页 |
| 4.2 基于FPGA的数据采集系统 | 第44-45页 |
| 4.3 本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 实验测试及数据分析 | 第46-56页 |
| 5.1 电荷灵敏前置放大器噪声 | 第46页 |
| 5.2 核电子学电路测试 | 第46-53页 |
| 5.2.1 波形测试 | 第47-48页 |
| 5.2.2 241Am能谱探测 | 第48-53页 |
| 5.3 数据采集系统仿真与测试 | 第53-55页 |
| 5.3.1 模块的仿真 | 第53-54页 |
| 5.3.2 基于FPGA系统测试 | 第54-55页 |
| 5.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 在校科研工作 | 第61页 |