多层瓷介电容器长期贮存寿命可靠性研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 可靠性和贮存可靠性概况 | 第9-14页 |
| 1.1.1 可靠性研究的历史阶段 | 第9-11页 |
| 1.1.2 贮存可靠性概况 | 第11-13页 |
| 1.1.3 研究元器件贮存可靠性的必要性 | 第13-14页 |
| 1.2 贮存寿命试验概况 | 第14-18页 |
| 1.2.1 贮存寿命的定义 | 第14页 |
| 1.2.2 寿命试验目的及分类 | 第14-15页 |
| 1.2.3 加速寿命试验 | 第15-16页 |
| 1.2.4 加速退化试验 | 第16页 |
| 1.2.5 贮存寿命试验研究进展 | 第16-18页 |
| 1.3 多层瓷介电容器长期贮存研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3.1 长期贮存相关手册和报告 | 第18页 |
| 1.3.2 多层瓷介电容器相关的可靠性保证标准 | 第18-19页 |
| 1.4 本文的研究内容 | 第19-21页 |
| 第2章 多层瓷介电容器失效机理分析 | 第21-27页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 结构特点 | 第21-22页 |
| 2.3 失效模式 | 第22-26页 |
| 2.3.1 介质击穿 | 第22-23页 |
| 2.3.2 绝缘电阻下降 | 第23-24页 |
| 2.3.3 银离子迁移 | 第24页 |
| 2.3.4 端电极失效 | 第24-25页 |
| 2.3.5 热应力 | 第25页 |
| 2.3.6 弯曲应力 | 第25-26页 |
| 2.4 生产过程控制措施 | 第26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 建立基于贮存退化数据的加速试验模型 | 第27-34页 |
| 3.1 引言 | 第27页 |
| 3.2 加速退化试验的主要内容 | 第27-29页 |
| 3.2.1 退化失效寿命变量 | 第27-28页 |
| 3.2.2 加速退化试验应力水平 | 第28页 |
| 3.2.3 加速退化试验的测试周期 | 第28页 |
| 3.2.4 加速退化试验的过程控制 | 第28-29页 |
| 3.3 数据处理模型的建立 | 第29-33页 |
| 3.3.1 线性退化模型 | 第29-30页 |
| 3.3.2 基于伪寿命分布的退化数据统计分析 | 第30-32页 |
| 3.3.3 基于退化量分布的退化数据统计分析 | 第32页 |
| 3.3.4 灰色系统理论模型 | 第32-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 多层瓷介电容器加速退化试验 | 第34-45页 |
| 4.1 引言 | 第34页 |
| 4.2 试验方法主要因素分析 | 第34-39页 |
| 4.2.1 Arrhenius模型 | 第34-36页 |
| 4.2.2 多层瓷介电容器的参数分析 | 第36-37页 |
| 4.2.3 加速应力、关键退化参数及选择 | 第37-38页 |
| 4.2.4 样本数量 | 第38-39页 |
| 4.3 数据采集与处理 | 第39-44页 |
| 4.3.1 数据采集要求 | 第39页 |
| 4.3.2 退化数据线性拟合方法 | 第39-41页 |
| 4.3.3 退化数据线性回归处理 | 第41-44页 |
| 4.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 试验模型验证 | 第45-52页 |
| 5.1 引言 | 第45页 |
| 5.2 威布尔分布的参数估计 | 第45-49页 |
| 5.2.1 最大相关系数优化法 | 第45-48页 |
| 5.2.2 高温贮存数据处理 | 第48-49页 |
| 5.3 灰色系统理论模型数据处理 | 第49-51页 |
| 5.3.1 预测值表达式 | 第49页 |
| 5.3.2 常温贮存数据处理 | 第49-51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 个人简历 | 第60页 |
