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大尺寸光栅刻槽误差校正及在线监测技术研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
目录第9-13页
第1章 绪论第13-31页
    1.1 课题研究背景及意义第13-15页
    1.2 相关领域的研究现状第15-28页
        1.2.1 光栅刻划机的国内外发展现状第15-20页
        1.2.2 光栅刻划机刻槽误差补偿方法的国内外研究现状第20-26页
        1.2.3 双频激光干涉仪发展现状第26-28页
    1.3 论文的主要研究内容及结构安排第28-31页
        1.3.1 论文的主要研究内容第28-29页
        1.3.2 论文的结构安排第29-31页
第2章 光栅刻划机工作原理及误差分析第31-47页
    2.1 引言第31页
    2.2 光栅刻划机主要工作原理第31-40页
        2.2.1 光栅刻划机不同的运行方式第31-34页
        2.2.2 光栅刻划机刻划系统工作原理第34-35页
        2.2.3 光栅刻划机分度系统工作原理第35-36页
        2.2.4 光栅刻划机位移误差测量方法第36-40页
    2.3 光栅刻槽误差的主要影响因素及分析方法第40-45页
        2.3.1 光栅刻槽误差的主要影响因素第40-44页
        2.3.2 光栅刻划机刻槽误差分析方法第44-45页
    2.4 本章小结第45-47页
第3章 光栅刻划刀架系统的结构改进与运行精度分析第47-65页
    3.1 引言第47-48页
    3.2 非理想平面光栅傅里叶变换的理论模型及分析第48-52页
        3.2.1 理论模型第48-50页
        3.2.2 刻槽弯曲和位置误差对光栅光谱性能的影响分析第50-52页
    3.3 刻划刀架系统驱动方式的修正方法第52-59页
        3.3.1 刻划刀架系统驱动方式修正前结构及误差分析第52-55页
        3.3.2 刻划刀架系统修正后结构及误差分析第55-57页
        3.3.3 实验验证第57-59页
    3.4 刻划刀架系统运行稳定性的机械修正方法第59-61页
        3.4.1 刻划刀架系统改进前结构第59-60页
        3.4.2 刻划刀架系统改进后的结构设计第60-61页
        3.4.3 刻划刀架系统运行稳定性的光学测量方法第61页
    3.5 实验验证第61-64页
    3.6 本章小结第64-65页
第4章 光栅刻划机工作台的摆角校正方法第65-90页
    4.1 引言第65-66页
    4.2 工作台摆角误差及其对光栅衍射波前质量的影响分析第66-70页
        4.2.1 工作台摆角误差来源第66-68页
        4.2.2 工作台摆角误差对光栅波前质量影响分析第68-70页
    4.3 双压电驱动器式工作台摆角校正原理及光路设计第70-79页
        4.3.1 双压电驱动器式工作台摆角校正原理第70-71页
        4.3.2 双压电驱动器式工作台结构设计第71-72页
        4.3.3 压电驱动器的工作原理及型号选取第72-77页
        4.3.4 工作台摆角测量光路的设计第77-79页
    4.4 工作台摆角校正能力的有限元仿真分析及设计第79-84页
        4.4.1 弹簧片的选择第79-80页
        4.4.2 拉簧封闭力选择第80-82页
        4.4.3 工作台内层台封闭力设计第82-84页
    4.5 实验验证第84-88页
    4.6 本章小结第88-90页
第5章 光栅基底面形误差补偿技术第90-103页
    5.1 引言第90页
    5.2 机械刻划光栅基底承载基座的设计及优化第90-93页
    5.3 机械刻划光栅基底面形误差实时补偿数学模型第93-96页
        5.3.1 光栅基底面形误差数学模型的建立第93-95页
        5.3.2 光栅刻划误差数学模型的建立第95-96页
        5.3.3 建立光栅基底面形误差补偿模型第96页
    5.4 光栅基底面形误差补偿方法第96-99页
        5.4.1 光栅基底面形误差的提取第96-97页
        5.4.2 采用光栅刻槽主动控制技术实时校正光栅基底面形误差第97-99页
    5.5 实验验证第99-101页
    5.6 本章小结第101-103页
第6章 光栅分辨本领实时监测技术第103-117页
    6.1 引言第103-104页
    6.2 衍射光栅光谱成像理论第104-110页
        6.2.1 Huygens原理的严格表达式第104-105页
        6.2.2 Huygens原理的近似公式第105-108页
        6.2.3 光栅光谱成像的傅里叶变换方法第108-110页
    6.3 光栅分辨本领求解方法及仿真分析第110-113页
    6.4 实验验证第113-116页
    6.5 本章小结第116-117页
第7章 结论与展望第117-120页
    7.1 结论第117-118页
    7.2 展望第118-120页
参考文献第120-129页
在学期间学术成果情况第129-130页
指导教师及作者简介第130-131页
致谢第131-132页

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