飞针测试机电测系统的设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本课题的主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 飞针测试机的整体架构与电测设计需求 | 第13-19页 |
| 2.1 飞针测试机系统架构介绍 | 第13-14页 |
| 2.2 飞针测试机系统架构与改进 | 第14-16页 |
| 2.3 飞针测试机电测系统的设计需求 | 第16-19页 |
| 2.3.1 硬件接口匹配要求 | 第16-17页 |
| 2.3.2 电测系统的测试方法要求 | 第17页 |
| 2.3.3 电测系统的测试效率要求 | 第17页 |
| 2.3.4 电测系统测量范围与精度要求 | 第17-18页 |
| 2.3.5 电测系统测试源与信号源要求 | 第18-19页 |
| 第3章 电测系统测试方法及理论 | 第19-26页 |
| 3.1 电测系统电容测试法 | 第19-20页 |
| 3.2 电测系统电阻测试法 | 第20-21页 |
| 3.2.1 导通性测试法 | 第20页 |
| 3.2.2 绝缘性测试法 | 第20-21页 |
| 3.2.3 微阻测试法 | 第21页 |
| 3.3 电测系统设计理论基础 | 第21-26页 |
| 3.3.1 飞针的收发组合 | 第21-22页 |
| 3.3.2 电阻测试的接线方式 | 第22-23页 |
| 3.3.3 微阻测试的信号噪声分析 | 第23-26页 |
| 第4章 飞针测试机电测系统的硬件设计 | 第26-43页 |
| 4.1 测试源电路 | 第27-31页 |
| 4.1.1 恒流源电路 | 第27-30页 |
| 4.1.2 高压源电路 | 第30-31页 |
| 4.2 DA和AD转换电路 | 第31-33页 |
| 4.2.1 DA转换电路 | 第31-32页 |
| 4.2.2 AD转换电路 | 第32-33页 |
| 4.3 电容测试法的电路设计 | 第33-36页 |
| 4.3.1 电容检测电路的设计 | 第34-35页 |
| 4.3.2 峰值检波电路的设计 | 第35页 |
| 4.3.3 DDS模块的设计 | 第35-36页 |
| 4.4 切换电路 | 第36-40页 |
| 4.4.1 收发组合切换 | 第37页 |
| 4.4.2 信号采集切换电路 | 第37-39页 |
| 4.4.3 微阻测试开关倒向电路 | 第39-40页 |
| 4.5 信号处理电路 | 第40-41页 |
| 4.6 电源电路 | 第41-43页 |
| 第5章 飞针测试机电测系统的软件设计 | 第43-52页 |
| 5.1 电测系统软件总体流程 | 第43-44页 |
| 5.2 硬件初始化与硬件自检子程序 | 第44-46页 |
| 5.3 MCU与上位机通信 | 第46-48页 |
| 5.3.1 MCU与上位机通信协议 | 第46-47页 |
| 5.3.2 MCU与上位机通信程序 | 第47-48页 |
| 5.4 模式选择与档位调整程序 | 第48-49页 |
| 5.5 MCU信号采集与处理程序 | 第49-52页 |
| 第6章 电测系统的调试与分析 | 第52-61页 |
| 6.1 硬件电路调试 | 第52-54页 |
| 6.1.1 电源电路调试 | 第52-53页 |
| 6.1.2 恒流源调试 | 第53页 |
| 6.1.3 高压测试源调试 | 第53-54页 |
| 6.1.4 AD采集模块电路硬件联调 | 第54页 |
| 6.2 电测系统现场测试与数据分析 | 第54-59页 |
| 6.2.1 电容测试数据及分析 | 第55-56页 |
| 6.2.2 微阻测试数据及分析 | 第56-58页 |
| 6.2.3 导通测试数据及分析 | 第58页 |
| 6.2.4 绝缘测试数据及分析 | 第58-59页 |
| 6.3 电测系统调试小结 | 第59-61页 |
| 第7章 总结 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 附录 1 | 第65-66页 |
| 附录 2 | 第66-70页 |
| 附录 3 | 第70-72页 |
| 附录 4 | 第72-74页 |
| 附录 5 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
