| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 选题背景及其意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-16页 |
| 1.2.1 高电导率雾的特征参数 | 第10-12页 |
| 1.2.2 高电导率雾对绝缘子表面污秽度的影响 | 第12-14页 |
| 1.2.3 高电导率雾对绝缘子污闪电压的影响 | 第14-15页 |
| 1.2.4 存在的问题 | 第15-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 试验系统搭建 | 第17-26页 |
| 2.1 试验平台的设计与搭建 | 第17-18页 |
| 2.2 试品选择 | 第18-19页 |
| 2.3 试验方法 | 第19-25页 |
| 2.3.1 绝缘子的染污方法 | 第19-20页 |
| 2.3.2 高电导率雾的模拟及等效性分析 | 第20-23页 |
| 2.3.3 闪络试验电气方法选取 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 高电导率雾对瓷绝缘子污闪电压影响的试验研究 | 第26-37页 |
| 3.1 高电导率雾环境中污秽瓷绝缘子闪络试验 | 第26-28页 |
| 3.2 闪络电压数据分析 | 第28-33页 |
| 3.2.1 闪络电压与盐密的关系 | 第28-31页 |
| 3.2.2 闪络电压与雾水电导率的关系 | 第31-33页 |
| 3.3 高电导率雾下短串绝缘子污闪电压公式修正 | 第33-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 高电导率雾对短串绝缘子污闪电压影响机理研究 | 第37-54页 |
| 4.1 绝缘子污秽闪络机理分析 | 第37-40页 |
| 4.1.1 污闪阶段划分及物理模型 | 第37-38页 |
| 4.1.2 电弧参数和剩余电阻特性分析 | 第38页 |
| 4.1.3 交流污闪条件分析 | 第38-40页 |
| 4.2 高电导率雾对短串绝缘子表面污秽度的影响 | 第40-44页 |
| 4.2.1 绝缘子表面污秽度状态参数选取 | 第40-41页 |
| 4.2.2 工作电压下绝缘子泄漏电流采集 | 第41页 |
| 4.2.3 泄漏电流采样分析 | 第41-44页 |
| 4.3 高电导率雾对短串绝缘子空间电场分布的影响 | 第44-51页 |
| 4.3.1 模型建立 | 第44-46页 |
| 4.3.2 雾水电导率对短串绝缘子电场分布的影响 | 第46-51页 |
| 4.4 高电导率雾对绝缘子交流污闪影响机理分析 | 第51-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 高电导率雾环境中基于泄漏电流高频分量的绝缘子污闪预警方法探究 | 第54-63页 |
| 5.1 绝缘子污闪预警方法 | 第54页 |
| 5.2 泄漏电流样本采集与处理 | 第54-56页 |
| 5.2.1 泄漏电流样本采集 | 第54-55页 |
| 5.2.2 功率谱分析 | 第55-56页 |
| 5.3 污闪预警阈值的确定 | 第56-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 结论与展望 | 第63-65页 |
| 6.1 结论 | 第63-64页 |
| 6.2 不足与展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作与取得的成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
