高压直流导线下方介质薄膜表面荷电特性研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.1 绝缘介质表面荷电特性研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.2 静电电位与电荷测量研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 论文研究的主要内容 | 第15-16页 |
| 第2章 介质薄膜表面电荷测试方案设计 | 第16-28页 |
| 2.1 振动电容式静电计测量原理 | 第16-18页 |
| 2.2 平行极板电晕放电测试平台 | 第18-21页 |
| 2.3 介质薄膜表面电荷测量系统 | 第21-26页 |
| 2.3.1 介质薄膜表面电位测量装置 | 第21-23页 |
| 2.3.2 表面电荷反演计算 | 第23-25页 |
| 2.3.3 表面电荷测量系统的稳定性与有效性验证 | 第25-26页 |
| 2.4 介质薄膜表面电荷测试方案 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 离子流场中介质薄膜表面荷电特性测试与分析 | 第28-36页 |
| 3.1 实验方法 | 第28-29页 |
| 3.2 介质薄膜表面电荷测量实验结果 | 第29-33页 |
| 3.3 介质薄膜表面电荷累积机理分析 | 第33-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 材料性质与表面电荷累积的关系 | 第36-46页 |
| 4.1 实验方法 | 第36页 |
| 4.2 实验结果 | 第36-44页 |
| 4.2.1 不同材料介质薄膜表面电荷测量结果 | 第36-40页 |
| 4.2.2 原子力显微镜采样检测结果 | 第40-44页 |
| 4.3 材料性质影响表面电荷累积的机理讨论 | 第44-45页 |
| 4.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 结论和展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-52页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研经历 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53页 |
