| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 热障涂层的发展及其研究现状 | 第9-14页 |
| 1.2.1 热障涂层的概念 | 第9-10页 |
| 1.2.2 热障涂层的制备工艺方法 | 第10-12页 |
| 1.2.3 热障涂层的失效形式 | 第12-14页 |
| 1.3 热障涂层氧化失效分析模型 | 第14-15页 |
| 1.4 本文的选题依据和研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 可靠性计算方法及其优缺点分析 | 第17-28页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 可靠性的基本原理 | 第17-19页 |
| 2.2.1 概率计算原理 | 第17-18页 |
| 2.2.2 敏感性因子计算原理 | 第18-19页 |
| 2.3 可靠性计算方法介绍 | 第19-24页 |
| 2.3.1 一次二阶矩法 | 第19-22页 |
| 2.3.2 Monte Carlo法 | 第22-24页 |
| 2.4 一次二阶矩法与Monte Carlo法对比 | 第24-27页 |
| 2.4.1 功能函数的非线性对计算结果的影响 | 第24-27页 |
| 2.4.2 随机参数的分布规律对计算结果的影响 | 第27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 球形界面热障涂层氧化失效的可靠性分析 | 第28-40页 |
| 3.1 极限状态方程 | 第28-29页 |
| 3.2 确定参数的随机统计分布 | 第29-32页 |
| 3.3 界面开裂失效的可靠性评估 | 第32-34页 |
| 3.4 敏感性因子 | 第34-39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 正弦界面热障涂层氧化失效可靠性分析 | 第40-55页 |
| 4.1 基于正弦界面形貌的应力分析 | 第40-45页 |
| 4.1.1 有限元模型 | 第40-41页 |
| 4.1.2 界面附近应力场 | 第41页 |
| 4.1.3 界面正应力及其经验关系 | 第41-45页 |
| 4.2 裂纹扩展准则 | 第45-47页 |
| 4.3 参数的随机统计特征 | 第47-48页 |
| 4.4 界面氧化可靠性 | 第48-52页 |
| 4.5 敏感性与关键参数分析 | 第52-53页 |
| 4.6 本章小结 | 第53-55页 |
| 第5章 总结与展望 | 第55-57页 |
| 5.1 全文总结 | 第55-56页 |
| 5.2 工作展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录：文中主要计算程序 | 第62-64页 |
| 个人简历与在校期间发表的学术论文与研究成果 | 第64页 |