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Si表面吸附及Si掺杂缺陷GaN磁性的研究

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-10页
第一章 导论第10-29页
 第一部分第10-17页
   ·半导体Si材料的基本介绍第10-12页
   ·表面及表面科学第12-16页
   ·第一部分的研究内容第16-17页
 第二部分第17-25页
   ·稀磁半导体(DMS)第17-21页
   ·稀磁半导体的研究进展第21-22页
   ·GaN基稀磁半导体第22-24页
   ·第二部分的研究内容第24-25页
 参考文献第25-29页
第二章 研究方法及理论基础第29-43页
   ·计算材料学概述第29-31页
   ·基于量子力学从头算(ab initio)理论的密度泛函理论第31-39页
   ·对基于密度泛函理论的计算软件包的介绍第39-41页
 参考文献第41-43页
第三章 Si(100)表面吸附的理论研究第43-64页
   ·引言第43-46页
   ·Si(100)表面重构的研究第46-53页
   ·Si(100)p(2×2)表面Au吸附的研究第53-59页
   ·结论第59-60页
 参考文献第60-64页
第四章 Si掺杂对缺陷诱导的GaN磁性的影响第64-80页
   ·引言第64-65页
   ·基本理论及结构模型第65-66页
   ·计算结果及讨论第66-75页
   ·结论第75-77页
 参考文献第77-80页
致谢第80-81页
在读期间发表论文第81页

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