| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第11-14页 |
| ·电磁辐射危害人类健康 | 第12页 |
| ·电磁辐射干扰电子设备 | 第12-13页 |
| ·传导干扰的危害 | 第13-14页 |
| ·国内外对电磁干扰的控制方法 | 第14-16页 |
| ·屏蔽材料 | 第16-20页 |
| ·屏蔽材料的应用 | 第16-17页 |
| ·屏蔽材料的分类 | 第17-18页 |
| ·衡量材料电磁屏蔽性能的参数及其测试 | 第18-20页 |
| ·本文的主要研究内容和结构 | 第20-22页 |
| 第二章 材料对电磁干扰的抑制及测试原理 | 第22-42页 |
| ·电磁波入射到介电平面 | 第22-26页 |
| ·表面阻抗 | 第22-23页 |
| ·平行极化波 | 第23-25页 |
| ·垂直极化波 | 第25-26页 |
| ·电磁屏蔽及屏蔽原理 | 第26-28页 |
| ·电磁屏蔽 | 第26页 |
| ·电磁屏蔽原理 | 第26-28页 |
| ·屏蔽效能 | 第28-35页 |
| ·屏蔽效能的定义 | 第28页 |
| ·近场和远场 | 第28-31页 |
| ·屏蔽效能——近场电场源 | 第31-34页 |
| ·屏蔽效能——近场磁场源 | 第34-35页 |
| ·传导干扰抑制 | 第35-39页 |
| ·共模电流和差模电流 | 第35-37页 |
| ·传导电流的抑制 | 第37-39页 |
| ·材料的电磁干扰抑制性能的测试模型 | 第39-42页 |
| 第三章 测试系统和夹具的研制 | 第42-54页 |
| ·接收探针 | 第42-46页 |
| ·同轴电场探针的研制 | 第42-43页 |
| ·同轴磁场探针的研制 | 第43-44页 |
| ·CPWG 磁场探针的研制 | 第44-46页 |
| ·微带线及位移平台 | 第46-49页 |
| ·微带线的设计 | 第46-47页 |
| ·微带线到 APC-7 的过渡 | 第47-48页 |
| ·三维移动平台 | 第48-49页 |
| ·同轴测试夹具的研制 | 第49-52页 |
| ·同轴线 | 第49-51页 |
| ·同轴测试夹具 | 第51-52页 |
| ·带状线测试夹具的研制 | 第52-54页 |
| ·带状线（slabline） | 第52-53页 |
| ·带状线到 APC-7 的过渡 | 第53-54页 |
| 第四章 测试系统的集成 | 第54-64页 |
| ·矢量网络分析仪及校准 | 第54-56页 |
| ·近场电场辐射控制性能测试系统 | 第56-57页 |
| ·近场电场辐射控制性能测试系统的集成 | 第56-57页 |
| ·测试算法 | 第57页 |
| ·近场磁场辐射控制性能测试系统 | 第57-58页 |
| ·近场磁场辐射控制性能测试系统的集成 | 第57-58页 |
| ·测试算法 | 第58页 |
| ·材料对传导干扰抑制的测试系统 | 第58-61页 |
| ·材料对传导干扰抑制的同轴线测试系统 | 第58-59页 |
| ·材料对传导干扰抑制的带状线测试系统 | 第59-60页 |
| ·测试算法 | 第60-61页 |
| ·测试流程 | 第61-62页 |
| ·近场电场、磁场辐射控制性能测试系统的测试流程 | 第61-62页 |
| ·材料对传导干扰抑制的测试系统的测试流程 | 第62页 |
| ·相应的测试软件 | 第62-64页 |
| 第五章 测试结果及分析 | 第64-68页 |
| ·测试结果 | 第64-67页 |
| ·材料对近场电场的抑制作用 | 第64-65页 |
| ·材料对近场磁场的抑制作用 | 第65-66页 |
| ·材料对传导干扰（共模电流）的抑制作用——同轴线法测试 | 第66页 |
| ·材料对传导干扰（共模电流）的抑制作用——带状线法测试 | 第66-67页 |
| ·误差来源分析 | 第67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论 | 第68-69页 |
| ·论文的研究内容和获得的成果 | 第68页 |
| ·对后续研究工作的展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第74-75页 |