| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第10-12页 |
| ·场效应管测试系统的发展和组成 | 第12-14页 |
| ·国内外场效应管测试仪国内外发展现状 | 第14-15页 |
| ·论文研究的意义 | 第15页 |
| ·论文主要任务 | 第15-16页 |
| ·论文主要内容 | 第16-17页 |
| 第二章 场效应管测试方法的研究 | 第17-37页 |
| ·场效应管分类和测试参数 | 第17-18页 |
| ·场效应管的分类 | 第17页 |
| ·场效应管测试参数 | 第17-18页 |
| ·温度对电气参数的影响 | 第18-20页 |
| ·直流电压参数测试 | 第20-23页 |
| ·阈值电压测量方法 | 第20-21页 |
| ·漏-源击穿电压测量方法 | 第21-23页 |
| ·直流电流测试 | 第23-29页 |
| ·栅极漏电流的测量方法 | 第24-26页 |
| ·漏极漏电流的测试方法 | 第26-27页 |
| ·饱和漏电流的测试方法 | 第27-29页 |
| ·复合参数测量 | 第29-36页 |
| ·场效应管导通电阻测量方法 | 第29-30页 |
| ·低频跨导的测量 | 第30-33页 |
| ·时间参数的测量 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 测量适配器设计 | 第37-63页 |
| ·半导体分立器件测试系统组成 | 第37-38页 |
| ·测量适配器的功能及总体方案 | 第38-39页 |
| ·硬件电路设计 | 第39-48页 |
| ·硬件资源接口 | 第39-40页 |
| ·分立器件自动分选系统接口 | 第40-41页 |
| ·放大电路设计 | 第41-43页 |
| ·开关矩阵模块 | 第43-45页 |
| ·继电器驱动电路 | 第45页 |
| ·电路的干扰的分析和抑制 | 第45-48页 |
| ·漏电流处理电路电路 | 第48-59页 |
| ·漏电流检测方案 | 第48-54页 |
| ·检测电路放大器选择 | 第54-55页 |
| ·漏电流检测电路设计 | 第55-57页 |
| ·二级放大和滤波电路设计 | 第57-59页 |
| ·逻辑控制电路设计 | 第59-62页 |
| ·CPLD 芯片选择 | 第59页 |
| ·复位电路设计 | 第59-60页 |
| ·总线电路设计 | 第60页 |
| ·控制逻辑设计 | 第60-61页 |
| ·逻辑状态机设计 | 第61-62页 |
| ·驱动程序设计 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第四章 场效应管测试指标的编写 | 第63-77页 |
| ·开发语言和开发环境的选择 | 第63-64页 |
| ·功能板驱动的封装 | 第64-69页 |
| ·映射表的的建立 | 第65-66页 |
| ·电压电流量程查找 | 第66-68页 |
| ·施加延时、测量延时、滤波次数、滤波延时参数的确定 | 第68页 |
| ·封装函数执行过程分析 | 第68-69页 |
| ·场效应管测试函数的编写 | 第69-75页 |
| ·场效应管测试指标函数编写 | 第69-72页 |
| ·测试流程优化 | 第72-74页 |
| ·场效应管函数库的建立 | 第74-75页 |
| ·帮助文档的编写 | 第75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第五章 场效应管的测试和分析 | 第77-85页 |
| ·测量适配器的调试 | 第77-79页 |
| ·继电器闭合和断开调试 | 第77-78页 |
| ·漏电流处理电路调试 | 第78-79页 |
| ·驱动封装和测试指标函数的调试 | 第79-84页 |
| ·驱动封装调试 | 第79-81页 |
| ·测试系统的硬件平台搭建和场效应管参数测试 | 第81-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 总结及展望 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-88页 |