| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-27页 |
| ·研究背景与意义 | 第15-17页 |
| ·国内外技术研究现状 | 第17-24页 |
| ·模拟电路测试激励选择研究现状 | 第18-19页 |
| ·模拟电路测试节点选择研究现状 | 第19-20页 |
| ·模拟电路故障特征提取研究现状 | 第20-21页 |
| ·模拟电路故障诊断技术研究现状 | 第21-23页 |
| ·现有研究存在的问题 | 第23-24页 |
| ·论文的内容安排 | 第24-27页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第24-25页 |
| ·论文的内容安排 | 第25-27页 |
| 第二章 基于信号波形分解的模拟电路测试激励生成方法研究 | 第27-53页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·测试激励生成的优化目标 | 第27-29页 |
| ·基于信号傅里叶级数分解的测试激励生成方法 | 第29-31页 |
| ·基于傅里叶级数的测试激励信号分解 | 第29页 |
| ·基于傅里叶级数的测试激励优化约束 | 第29-30页 |
| ·基于傅里叶级数的测试激励优化模型 | 第30-31页 |
| ·基于信号小波基分解的测试激励生成方法 | 第31-34页 |
| ·基于小波基的测试激励信号分解 | 第31-32页 |
| ·基于小波基的测试激励优化约束 | 第32-34页 |
| ·基于小波基的测试激励优化模型 | 第34页 |
| ·基于信号波形分解的测试激励生成算法设计 | 第34-36页 |
| ·实验与分析 | 第36-51页 |
| ·测试电路的动态响应实现 | 第36-37页 |
| ·测试电路 1 的测试激励生成实验 | 第37-46页 |
| ·测试电路 2 的测试激励生成实验 | 第46-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第三章 基于模糊故障概率的模拟电路测试节点选择方法研究 | 第53-76页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·基于正态分布的故障模糊区间 | 第53-56页 |
| ·基于模糊故障概率的最优测试节点选择 | 第56-60页 |
| ·扩展的故障字典 | 第56页 |
| ·改进的整数编码法 | 第56-57页 |
| ·模糊故障交叉面积表 | 第57-58页 |
| ·基于模糊故障概率的测试节点选择算法设计 | 第58-59页 |
| ·算法的时间复杂度 | 第59-60页 |
| ·测试电路的仿真实验与分析 | 第60-69页 |
| ·测试电路 1 的测试节点选择实验 | 第60-67页 |
| ·测试电路 2 的测试节点选择实验 | 第67-69页 |
| ·测试电路的物理实验与分析 | 第69-74页 |
| ·实验平台及硬件系统介绍 | 第69-71页 |
| ·测试电路的测试节点选择物理实验 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-76页 |
| 第四章 基于分数阶小波变换的模拟电路故障特征提取方法研究 | 第76-101页 |
| ·引言 | 第76-77页 |
| ·分数阶小波变换 | 第77-79页 |
| ·分数阶小波变换的定义 | 第77-78页 |
| ·分数阶小波变换的性质 | 第78-79页 |
| ·基于核分解的分数阶小波变换离散算法 | 第79-82页 |
| ·算法的提出 | 第79-81页 |
| ·与现有算法的比较 | 第81-82页 |
| ·基于分数阶小波变换的特征提取方法 | 第82-84页 |
| ·基于信息源熵的最优分数阶空间 | 第82-83页 |
| ·基于多阶分数阶小波变换的故障特征提取方法 | 第83-84页 |
| ·实验与分析 | 第84-99页 |
| ·白噪声信号的 FWT 时频分析 | 第84-85页 |
| ·测试电路的故障诊断仿真实验 | 第85-92页 |
| ·测试电路的故障诊断物理实验 | 第92-99页 |
| ·本章小结 | 第99-101页 |
| 第五章 基于 VSVDD 的模拟电路故障诊断方法研究 | 第101-123页 |
| ·引言 | 第101-103页 |
| ·SVDD 的基本原理 | 第103页 |
| ·基于 Vague 集信息融合的 VSVDD 多分类法 | 第103-108页 |
| ·Vague 集 | 第103-104页 |
| ·VSVDD 多类分类算法描述 | 第104-106页 |
| ·VSVDD 算法的理论分析 | 第106-108页 |
| ·基于 VSVDD 的故障诊断方法 | 第108-109页 |
| ·实验与分析 | 第109-121页 |
| ·UCI 人工数据的实验分析 | 第109-110页 |
| ·测试电路的故障诊断仿真实验 | 第110-116页 |
| ·测试电路的故障诊断物理实验 | 第116-121页 |
| ·本章小结 | 第121-123页 |
| 第六章 总结和展望 | 第123-126页 |
| ·全文总结 | 第123-124页 |
| ·未来工作展望 | 第124-126页 |
| 参考文献 | 第126-134页 |
| 致谢 | 第134-135页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第135-136页 |
