模块化大容量测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 引言 | 第9页 |
| ·研究本课题的背景及意义 | 第9-10页 |
| ·存储测试系统的概述及发展现状 | 第10-12页 |
| ·数据采集系统主要技术的实现 | 第12页 |
| ·论文章节安排及本文的特色 | 第12-14页 |
| 第二章 数据采集系统的基本理论 | 第14-18页 |
| ·数据采集的基本理论 | 第14页 |
| ·模拟信号的数字化过程 | 第14-15页 |
| ·采样定理 | 第15-16页 |
| ·采样方式 | 第16页 |
| ·量化及量化误差 | 第16-18页 |
| 第三章 系统总体设计方案 | 第18-28页 |
| ·总体设计原则 | 第18页 |
| ·安全可靠性原则 | 第18页 |
| ·低功耗和灵活性原则 | 第18页 |
| ·系统技术指标与功能 | 第18-19页 |
| ·测试系统的技术指标 | 第18-19页 |
| ·测试系统的功能 | 第19页 |
| ·系统功能模块化设计 | 第19-20页 |
| ·模块化结构的基本方法和原理 | 第19-20页 |
| ·系统模块化设计 | 第20页 |
| ·工作状态设计 | 第20-22页 |
| ·总体方案设计 | 第22-28页 |
| ·结构设计 | 第22-26页 |
| ·测试系统的软件分析 | 第26-28页 |
| 第四章 系统硬件设计 | 第28-48页 |
| ·芯片的选型 | 第28-35页 |
| ·存储器的选择 | 第28-31页 |
| ·A/D 转换器的选择 | 第31-32页 |
| ·USB 接口电路 | 第32-34页 |
| ·可编程逻辑器件 | 第34-35页 |
| ·系统的总体框图和工作原理 | 第35-36页 |
| ·系统的硬件实现 | 第36-43页 |
| ·传感器电路 | 第36-37页 |
| ·模拟调理模块 | 第37-38页 |
| ·系统输入阻抗 | 第38-40页 |
| ·放大倍数可调节 | 第40-41页 |
| ·滤波模块 | 第41-43页 |
| ·A/D 转换模块 | 第43页 |
| ·电源管理模块 | 第43-44页 |
| ·通信接口 USB 模块 | 第44-45页 |
| ·缓存 FIFO 模块 | 第45-46页 |
| ·FLASH 存储器模块 | 第46-47页 |
| ·晶振电路 | 第47-48页 |
| 第五章 系统功能的关键技术及 CPLD 实现 | 第48-69页 |
| ·时钟管理模块的设计 | 第48-51页 |
| ·内外触发技术 | 第51-52页 |
| ·FIFO 缓存及负延时的实现 | 第52-57页 |
| ·FLASH 存储器模块 | 第57-63页 |
| ·USB 控制软核的实现 | 第63-67页 |
| ·FLASH 无效块动态管理 | 第67-69页 |
| 第六章 测试系统软件设计 | 第69-76页 |
| ·命令栏的五个控件介绍如下 | 第70-71页 |
| ·读取数据模块 | 第71页 |
| ·读取文件模块 | 第71-72页 |
| ·系统功能的验证 | 第72-76页 |
| 第七章 总结与展望 | 第76-77页 |
| 附录 | 第77-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及所取得的研究成果 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85页 |
