| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-24页 |
| ·研究背景和意义 | 第11-15页 |
| ·单粒子效应对航天器的影响 | 第11-12页 |
| ·SRAM 型FPGA 的空间应用 | 第12-13页 |
| ·SRAM 型FPGA 工艺发展带来的挑战 | 第13-14页 |
| ·论文的研究意义 | 第14-15页 |
| ·国内外研究现状综述 | 第15-22页 |
| ·SRAM 型FPGA 单粒子故障传播特性研究现状 | 第15-19页 |
| ·SRAM 型FPGA 单粒子故障测试方法研究现状 | 第19-22页 |
| ·论文主要研究工作及章节安排 | 第22-24页 |
| 第二章 SRAM 型FPGA 单粒子故障传播特性 | 第24-36页 |
| ·单粒子故障产生机理 | 第24-25页 |
| ·单粒子故障在SRAM 型FPGA 中的传播 | 第25-29页 |
| ·SRAM 型FPGA 的结构模型 | 第25-26页 |
| ·SRAM 型FPGA 单粒子敏感单元 | 第26页 |
| ·单粒子故障在SRAM 型FPGA 中的表现形式 | 第26-29页 |
| ·单粒子故障传播特性 | 第29-35页 |
| ·单粒子故障传播特性研究内容 | 第30-31页 |
| ·单粒子故障传播特性的分析方法 | 第31-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 SRAM 型FPGA 单粒子故障传播模型 | 第36-48页 |
| ·单粒子故障传播建模因素分析 | 第36-38页 |
| ·基于元胞自动机的单粒子故障传播模型 | 第38-43页 |
| ·元胞自动机理论及模型适用性分析 | 第38-40页 |
| ·单粒子故障传播模型 | 第40-43页 |
| ·单粒子故障传播过程 | 第43页 |
| ·仿真实验及结果分析 | 第43-47页 |
| ·算法设计与实现 | 第43-45页 |
| ·仿真实验结果分析 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 SRAM 型FPGA 单粒子故障测试方法与系统设计 | 第48-59页 |
| ·单粒子故障传播特性的测试方法 | 第48-50页 |
| ·电路功能模块耦合因子分析 | 第48-49页 |
| ·软错误失效率的测试方法 | 第49-50页 |
| ·单粒子故障注入测试原理与关键技术 | 第50-54页 |
| ·SEU 离散随机事件模型 | 第50-52页 |
| ·SEU 故障注入技术 | 第52-54页 |
| ·单粒子故障注入测试系统的设计与实现 | 第54-58页 |
| ·SEU 故障注入测试系统的结构分析 | 第54-55页 |
| ·单粒子故障测试系统的设计与实现 | 第55-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 SRAM 型FPGA 单粒子故障实验测试 | 第59-71页 |
| ·实验条件 | 第59-60页 |
| ·实验设计与实施 | 第60-66页 |
| ·实验目的与内容 | 第60-61页 |
| ·实验方案设计 | 第61-63页 |
| ·实验过程 | 第63-66页 |
| ·实验结果分析 | 第66-70页 |
| ·实验设计的测试验证 | 第66-67页 |
| ·电路功能模块耦合因子 | 第67-69页 |
| ·软错误失效率 | 第69-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-81页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第81页 |
